Выпуски

 / 

1972

 / 

Апрель

  

Новые приборы и методы измерений


Методы измерения малых изменений разности фаз в интерференционных устройствах

Содержание: Введение. Принципиальные ограничения точности интерференционных измерений. Визуальные методы. Метод измерения смещения полос. Метод равномерного поля. Метод уравнивания яркости соседних полос. Метод чувствительного цвета. Метод темного поля. Метод мерцаний. Метод эквиденситометрии. Фотоэлектрические методы. Модуляционный метод. Фазовый метод. Метод временного преобразования. Осциллографические методы. Компенсационный метод. Заключение. Цитированная литература.

Текст pdf (2,6 Мб)
PACS: 07.60.Ly, 06.30.Bp, 85.60.−q (все)
DOI: 10.3367/UFNr.0106.197204h.0687
URL: https://ufn.ru/ru/articles/1972/4/h/
Цитата: Карташев А И, Эцин И Ш "Методы измерения малых изменений разности фаз в интерференционных устройствах" УФН 106 687–721 (1972)
BibTexBibNote ® (generic) BibNote ® (RIS)MedlineRefWorks
Русский English
TY JOUR
TI Методы измерения малых изменений разности фаз в интерференционных устройствах
AU Карташев, А. И.
AU Эцин, И. Ш.
PB Успехи физических наук
PY 1972
JO Успехи физических наук
JF Успехи физических наук
JA Усп. физ. наук
VL 106
IS 4
SP 687-721
UR https://ufn.ru/ru/articles/1972/4/h/
ER https://doi.org/10.3367/UFNr.0106.197204h.0687

English citation: Kartashev A I, Etsin I Sh “Methods of Measuring Small Phase Difference Changes in Interference DevicesSov. Phys. Usp. 15 232–250 (1972); DOI: 10.1070/PU1972v015n02ABEH004966

© Успехи физических наук, 1918–2024
Электронная почта: ufn@ufn.ru Телефоны и адреса редакции О журнале Пользовательское соглашение