Issues

 / 

1996

 / 

February

  

Conferences and symposia


Scanning tunnelling and atomic force microscopy of surfaces modified by ion and laser beams


Zavoisky Physical-Technical Institute, FRC Kazan Scientific Center of RAS, Sibirskii trakt 10/7, Kazan, Республика Татарстан, 420029, Russian Federation
Fulltext pdf (821 KB)
Fulltext is also available at DOI: 10.1070/PU1996v039n02ABEH001499
PACS: 07.79.Cz, 07.79.Lh, 42.62.Hk (all)
DOI: 10.1070/PU1996v039n02ABEH001499
URL: https://ufn.ru/en/articles/1996/2/h/
A1996UB80800009
Citation: Bukharaev A A "Scanning tunnelling and atomic force microscopy of surfaces modified by ion and laser beams" Phys. Usp. 39 193–196 (1996)
BibTexBibNote ® (generic)BibNote ® (RIS)MedlineRefWorks

Оригинал: Бухараев А А «Исследование с помощью сканирующей туннельной и атомно-силовой микроскопии поверхностей, модифицированных ионными и лазерными пучками» УФН 166 210–213 (1996); DOI: 10.3367/UFNr.0166.199602i.0210

© 1918–2026 Uspekhi Fizicheskikh Nauk
Email: ufn@ufn.ru Editorial office contacts About the journal Terms and conditions