85.30.De Semiconductor-device characterization, design, and modeling
-
Д.В. Казанцев, Е.А. Казанцева «Безапертурная ближнепольная микроскопия упругого рассеяния света» УФН 194 630–673 (2024)
07.60.−j, 07.79.Fc, 61.46.−w, 68.37.Ps, 68.65.Pq, 85.30.De, 87.64.kp (все)
-
Д.В. Казанцев, Е.В. Кузнецов и др. «Безапертурная микроскопия ближнего оптического поля» УФН 187 277–295 (2017)
07.60.+j, 07.79.Fc, 61.46.+w, 68.37.Ps, 68.65.Pq, 85.30.De, 87.64.+t (все)
-
В.И. Фистуль, Н.З. Шварц «Туннельные диоды» УФН 77 109–160 (1962)
85.30.Mn, 73.40.Gk, 73.40.Kp, 85.30.De (все)
|