Обзор рассматривает успехи, достигнутые в последние годы с помощью безапертурного сканирующего микроскопа ближнего оптического поля (ASNOM), работающего в режиме упругого рассеяния света (sSNOM). Рассмотрены принципы работы прибора, технические приемы, искажения и шумы, характерные для методики sSNOM, теоретические модели, используемые в методике. Получили развитие методы детектирования воздействия зондирующего поля на образец под иглой (напр. термическое расширение), появилось заметное число исследований в терагерцовом или СВЧ-диапазоне. Развивается успех в материал-контрастном изображении поверхности, ведутся спектроскопические исследования областей поверхности нанометровых размеров. Рассмотрены достижения в изображении бегущих и стоячих плазмон- и фонон-поляритонных волн над поверхностью твердого тела и над двумерными объектами, в том числе ван-дер-Ваальсовыми материалами и графеном. Обнаружена гибридизация плазмонных поверхностных волн за счет взаимодействия носителей заряда в тонком 2D-объекте с носителями в подложке. Пространственное разрешение прибора (1—20 нм) за последние 5—8 лет практически не изменилось.