Ю.В. Сидельников



Институт спектроскопии РАН
Адрес: ул. Физическая 5, Троицк, Москва, 108840, Российская Федерация
Телефон: +7 (495) 851-05-79
Факс: +7 (495) 851-08-86
Вебсайт:


Статьи

  1. Д.Б. Абраменко, П.С. Анциферов, Д.И. Астахов и др. «Плазменные источники экстремального ультрафиолетового излучения для литографии и сопутствующих технологических процессов (к 50-летию Института спектроскопии РАН)» 189 323–334 (2019)
  2. Е.Д. Короп, Б.Э. Мейерович, Ю.В. Сидельников, С.Т. Сухоруков «Микропинч в сильноточном диоде» 129 87–112 (1979)

См. также: Е.Д. Короп, С.Т. Сухоруков, Б.Э. Мейерович, К.Н. Кошелев, А.Н. Рябцев, В.В. Медведев, В.М. Кривцун, М.С. Кривокорытов, Д.Б. Абраменко, В.В. Иванов, Л.А. Дорохин, Р.Р. Гаязов, П.С. Анциферов, Д.И. Астахов, Е.П. Снегирев

PACS: 42.82.Cr, 52.25.Os, 52.59.-f, 52.70.-m, 52.77.-j, 52.55.Ez, 52.25.Ps, 52.25.Lp

© Успехи физических наук, 1918–2020
Электронная почта: ufn@ufn.ru Телефоны и адреса редакции О журнале Пользовательское соглашение