RSS-ленты
РусскийEnglish
Выпуск 11, 2024
Том год страница
Выпуски Авторы PACS Подписчикам Для авторов

Выпуски

 / 

2024

 / 

Июнь

←  →

Приборы и методы исследований


Безапертурная ближнепольная микроскопия упругого рассеяния света

†  а, б, ‡  в
а Физический институт им. П.Н. Лебедева РАН, Ленинский проспект 53, Москва, 119991, Российская Федерация
б Национальный исследовательский университет «Высшая школа экономики», ул. Мясницкая 20, Москва, 101000, Российская Федерация
в Московский технологический университет, просп. Вернадского 78, Москва, 119454, Российская Федерация

В настоящем обзоре отражены успехи, достигнутые в последние годы с помощью безапертурного сканирующего микроскопа ближнего оптического поля (ASNOM), работающего в режиме упругого рассеяния света (sSNOM). Рассмотрены принципы работы прибора, технические приёмы, искажения и шумы, характерные для методики sSNOM, теоретические модели, используемые в методике. Получили развитие методы детектирования воздействия зондирующего поля на образец под иглой (например, термическое расширение), появилось заметное число исследований в терагерцевом или СВЧ-диапазоне. Развивается успех в материал-контрастном изображении поверхности, ведутся спектроскопические исследования областей поверхности нанометровых размеров. Приведены достижения в изображении бегущих и стоячих плазмон- и фонон-поляритонных волн над поверхностью твёрдого тела и над двумерными объектами, в том числе ван-дер-ваальсовыми материалами и графеном. Обнаружена гибридизация плазмонных поверхностных волн за счёт взаимодействия носителей заряда в тонком 2D-объекте с носителями в подложке. Пространственное разрешение прибора (1—20 нм) за последние 5—8 лет практически не изменилось.

Текст pdf (11 Мб)
English fulltext is available at DOI: 10.3367/UFNe.2024.02.039652
Ключевые слова: микроскопия ближнего оптического поля, наноструктуры, спектроскопия, ASNOM, sSNOM
PACS: 07.60.−j, 07.79.Fc, 61.46.−w, 68.37.Ps, 68.65.Pq, 85.30.De, 87.64.kp (все)
DOI: 10.3367/UFNr.2024.02.039652
URL: https://ufn.ru/ru/articles/2024/6/d/
001334470800003
2-s2.0-85200125275
2024PhyU...67..588K
Цитата: Казанцев Д В, Казанцева Е А "Безапертурная ближнепольная микроскопия упругого рассеяния света" УФН 194 630–673 (2024)
BibTexBibNote ® (generic)BibNote ® (RIS)MedlineRefWorks

Поступила: 26 мая 2023, доработана: 4 октября 2023, 27 февраля 2024

English citation: Kazantsev D V, Kazantseva E A “Scattering-type apertureless scanning near-field optical microscopy” Phys. Usp. 67 588–628 (2024); DOI: 10.3367/UFNe.2024.02.039652

Список литературы (379) Похожие статьи (20) ↓

  1. М.А. Проскурнин, В.Р. Хабибуллин и др. «Фототермическая и оптоакустическая спектроскопия: современное состояние и перспективы» УФН 192 294–340 (2022)
  2. И.С. Осадько «Микроскоп ближнего поля как инструмент для исследования наночастиц» УФН 180 83–87 (2010)
  3. К.Б. Фрицлер, В.Я. Принц «Методы трёхмерной печати микро- и наноструктур» УФН 189 55–71 (2019)
  4. Я.С. Гринберг, Ю.А. Пашкин, Е.В. Ильичёв «Наномеханические резонаторы» УФН 182 407–436 (2012)
  5. П.В. Зинин, К.М. Булатов и др. «Дистанционное измерение распределения температуры на поверхности твёрдых тел при воздействии мощного лазерного излучения» УФН 192 913–925 (2022)
  6. И.Е. Проценко, А.В. Усков «Фотоэмиссия из металлических наночастиц» УФН 182 543–554 (2012)
  7. А.Д. Погребняк, А.Г. Пономарев и др. «Применение микро- и нанозондов для анализа малоразмерных 3D материалов, наносистем и нанообъектов» УФН 182 287–321 (2012)
  8. Г.В. Мурастов, А.А. Липовка и др. «Лазерное восстановление оксида графена: локальное управление свойствами материала» УФН 193 1173–1204 (2023)
  9. Ю.С. Нечаев, Е.А. Денисов и др. «Методика термодесорбционного изучения состояний водорода в углеродных материалах и наноматериалах» УФН 193 994–1000 (2023)
  10. Е.Н. Рагозин, Е.А. Вишняков и др. «Спектрометры для мягкого рентгеновского диапазона на основе апериодических отражательных решёток и их применение» УФН 191 522–542 (2021)
  11. И.В. Антонова «Применение материалов на основе графенав 2D печатных технологиях» УФН 187 220–234 (2017)
  12. А.С. Пирожков, Е.Н. Рагозин «Апериодические многослойные структуры в оптике мягкого рентгеновского излучения» УФН 185 1203–1214 (2015)
  13. И.В. Антонова «Современные тенденции развития технологий выращивания графена методом химического осаждения паров на медных подложках» УФН 183 1115–1122 (2013)
  14. М.И. Ломаев, В.С. Скакун и др. «Эксилампы — эффективные источники спонтанного УФ- и ВУФ-излучения» УФН 173 201–217 (2003)
  15. М.М. Барышева, А.Е. Пестов и др. «Прецизионная изображающая многослойная оптика для мягкого рентгеновского и экстремального ультрафиолетового диапазонов» УФН 182 727–747 (2012)
  16. А.Е. Дубинов, Л.А. Мытарева «Маскировка материальных тел методом волнового обтекания» УФН 180 475–501 (2010)
  17. С.Г. Раутиан «Реальные спектральные приборы» УФН 66 475–517 (1958)
  18. В.П. Савиных, И.Ю. Васютинский, Д.В. Дементьев «Вертикальная рефракция света в приземном слое атмосферы: традиционные проблемы определения рефракции и новые технические достижения» УФН 192 926–943 (2022)
  19. В.В. Лидер «Рентгеновская флуоресцентная визуализация» УФН 188 1081–1102 (2018)
  20. Н.И. Коротеев «Интерференционные явления в когерентной активной спектроскопии рассеяния и поглощения света: голографическая многомерная спектроскопия» УФН 152 493–520 (1987)

Список формируется автоматически.
© Успехи физических наук, 1918–2024
Электронная почта: ufn@ufn.ru Телефоны и адреса редакции О журнале Пользовательское соглашение