Работа посвящена фундаментальным проблемам изготовления и тестирования, а также применениям в диапазоне длин волн 2–60 нм оптики, обеспечивающей дифракционное качество изображений (пространственное разрешение единицы/десятки нанометров) и востребованной для проекционной литографии, рентгеновской микроскопии, астрофизики и для фундаментальных исследований в области взаимодействия вещества (вакуума) со сверхсильными (10²⁰ — 10²³ Вт см⁻²) электромагнитными полями. Сообщается о состоянии этих исследований в мире и о последних разработках в этой области, проводимых в Институте физики микроструктур (ИФМ) РАН.

PACS: 41.50.+h, 42.79.−e, 95.55.Ka (все) DOI: 10.3367/UFNr.0182.201207c.0727 URL: https://ufn.ru/ru/articles/2012/7/c/ 000309960400003 2-s2.0-84867566149 Цитата: Барышева М М, Пестов А Е, Салащенко Н Н, Торопов М Н, Чхало Н И "Прецизионная изображающая многослойная оптика для мягкого рентгеновского и экстремального ультрафиолетового диапазонов" УФН 182 727–747 (2012) BibTexBibNote ® (generic)BibNote ® (RIS)MedlineRefWorks Поступила: 27 июня 2011, одобрена в печать: 17 августа 2011 English citation: Barysheva M M, Pestov A E, Salashchenko N N, Toropov M N, Chkhalo N I “Precision imaging multilayer optics for soft X-rays and extreme ultraviolet bands” Phys. Usp. 55 681–699 (2012); DOI: 10.3367/UFNe.0182.201207c.0727