Обсуждаются физическая природа, возможности и перспективы применения нового метода исследования структуры кристаллов и тонких приповерхностных слоев, основанного на регистрации вторичных излучений, таких, как внешняя и внутренняя фотоэлектронная эмиссия, а также рентгеновская флуоресценция, в условиях динамической дифракции рентгеновских лучей в монокристаллах, когда интенсивность поля излучения в кристалле копирует периодичность кристаллической решетки в виде стоячей волны вдоль вектора дифракции. Метод позволяет измерять абсолютные смещения атомных плоскостей в кристалле на доли ангстрема, а также определять степень порядка в расположении атомов в приповерхностном слое. Наряду с изложением истории вопроса и обзором наиболее важных работ, опубликованных в этой области за последние двадцать лет, достаточно подробно изложены вопросы теории и экспериментальной техники метода стоячих рентгеновских волн. Ил. 19. Библиогр. ссылок 140.