Обсуждаются физическая природа, возможности и перспективы применения нового метода исследования структуры кристаллов и тонких приповерхностных слоев, основанного на регистрации вторичных излучений, таких, как внешняя и внутренняя фотоэлектронная эмиссия, а также рентгеновская флуоресценция, в условиях динамической дифракции рентгеновских лучей в монокристаллах, когда интенсивность поля излучения в кристалле копирует периодичность кристаллической решетки в виде стоячей волны вдоль вектора дифракции. Метод позволяет измерять абсолютные смещения атомных плоскостей в кристалле на доли ангстрема, а также определять степень порядка в расположении атомов в приповерхностном слое. Наряду с изложением истории вопроса и обзором наиболее важных работ, опубликованных в этой области за последние двадцать лет, достаточно подробно изложены вопросы теории и экспериментальной техники метода стоячих рентгеновских волн. Ил. 19. Библиогр. ссылок 140.

TY JOUR
TI Рентгеновские стоячие волны — новый метод исследования структуры кристаллов
AU Ковальчук, М. В.
AU Кон, В. Г.
PB Успехи физических наук
PY 1986
JO Успехи физических наук
JF Успехи физических наук
JA Усп. физ. наук
VL 149
IS 5
SP 69-103
UR https://ufn.ru/ru/articles/1986/5/c/
ER https://doi.org/10.3367/UFNr.0149.198605c.0069