79.60.Bm Clean metal, semiconductor, and insulator surfaces
-
А.М. Бонч-Бруевич, Т.А. Вартанян и др. «Фотоотрыв поверхностных атомов металла» 168 920–923 (1998)
79.60.Bm
-
В.П. Быков, А.В. Герасимов, В.О. Турин «Кулоновская дезынтеграция слабых электронных потоков и фотоотсчеты» 165 955–966 (1995)
79.60.Bm, 42.50.Ct, 07.60.Dq, 85.60.Gz (все)
-
В.А. Гражулис «Низкотемпературные исследования поверхностей некоторых полупроводников» 152 703–704 (1987)
68.35.Bs, 68.47.Fg, 68.43.−h, 79.60.Bm, 68.49.Jk, 61.14.Hg (все)
-
М.В. Ковальчук, В.Г. Кон «Рентгеновские стоячие волны — новый метод исследования структуры кристаллов» 149 69–103 (1986)
61.50.Ah, 68.49.Uv, 79.60.Bm, 78.70.En (все)
-
В.А. Трапезников «Исследование поверхностных слоев методом электронной спектроскопии» 145 537–542 (1985)
68.35.Dv, 79.60.Bm, 79.20.Fv, 81.65.Mq, 81.65.Cf, 68.35.Gy (все)
-
А.Д. Гладун, П.П. Барашев «Внешний многоквантовый фотоэффект» 98 493–524 (1969)
79.60.Bm, 71.20.Nr (все)
|