Вакуумная туннельная микроскопия — новый метод изучения поверхности твердых тел

В последнее время заметно возрос интерес к изучению поверхности твердых тел. Это в свою очередь привело к появлению новых методов и приборов для исследования поверхности. В настоящей заметке мы кратко рассмотрим появившийся совсем недавно принципиально новый метод исследования поверхности, получивший название вакуумной туннельной микроскопии.

Текст pdf (329 Кб)

Скачивая файл я соглашаюсь с условиями использования.

English fulltext is available at DOI: 10.1070/PU1984v027n01ABEH004022

PACS: 07.79.Cz, 68.37.Ef (все)
DOI: 10.3367/UFNr.0142.198401g.0159
URL: https://ufn.ru/ru/articles/1984/1/g/
Цитата: Ревокатова И П, Силин А П "Вакуумная туннельная микроскопия — новый метод изучения поверхности твердых тел" УФН 142 159–162 (1984)

BibTex

BibNote ® (generic)BibNote ® (RIS)MedlineRefWorks

Русский

English

%0 Journal Article
%T Вакуумная туннельная микроскопия — новый метод изучения поверхности твердых тел
%A И. П. Ревокатова
%A А. П. Силин
%I Успехи физических наук
%D 1984
%J Усп. физ. наук
%V 142
%N 1
%P 159-162
%U https://ufn.ru/ru/articles/1984/1/g/
%U https://doi.org/10.3367/UFNr.0142.198401g.0159

English citation: Revokatova I P, Silin A P “Scanning tunneling microscopy: new method for studying solid surfaces” Sov. Phys. Usp. 27 76–78 (1984); DOI: 10.1070/PU1984v027n01ABEH004022