Выпуски

 / 

1984

 / 

Январь

  

Из текущей литературы


Вакуумная туннельная микроскопия — новый метод изучения поверхности твердых тел

В последнее время заметно возрос интерес к изучению поверхности твердых тел. Это в свою очередь привело к появлению новых методов и приборов для исследования поверхности. В настоящей заметке мы кратко рассмотрим появившийся совсем недавно принципиально новый метод исследования поверхности, получивший название вакуумной туннельной микроскопии.

Текст pdf (329 Кб)
PACS: 07.79.Cz, 68.37.Ef (все)
DOI: 10.3367/UFNr.0142.198401g.0159
URL: https://ufn.ru/ru/articles/1984/1/g/
Цитата: Ревокатова И П, Силин А П "Вакуумная туннельная микроскопия — новый метод изучения поверхности твердых тел" УФН 142 159–162 (1984)
BibTexBibNote ® (generic) BibNote ® (RIS)MedlineRefWorks
Русский English
TY JOUR
TI Вакуумная туннельная микроскопия — новый метод изучения поверхности твердых тел
AU Ревокатова, И. П.
AU Силин, А. П.
PB Успехи физических наук
PY 1984
JO Успехи физических наук
JF Успехи физических наук
JA Усп. физ. наук
VL 142
IS 1
SP 159-162
UR https://ufn.ru/ru/articles/1984/1/g/
ER https://doi.org/10.3367/UFNr.0142.198401g.0159

English citation: Revokatova I P, Silin A P “Scanning tunneling microscopy: new method for studying solid surfacesSov. Phys. Usp. 27 76–78 (1984); DOI: 10.1070/PU1984v027n01ABEH004022

© Успехи физических наук, 1918–2024
Электронная почта: ufn@ufn.ru Телефоны и адреса редакции О журнале Пользовательское соглашение