Вакуумная туннельная микроскопия — новый метод изучения поверхности твердых тел

В последнее время заметно возрос интерес к изучению поверхности твердых тел. Это в свою очередь привело к появлению новых методов и приборов для исследования поверхности. В настоящей заметке мы кратко рассмотрим появившийся совсем недавно принципиально новый метод исследования поверхности, получивший название вакуумной туннельной микроскопии.

Текст pdf (329 Кб)

Скачивая файл я соглашаюсь с условиями использования.

English fulltext is available at DOI: 10.1070/PU1984v027n01ABEH004022

PACS: 07.79.Cz, 68.37.Ef (все)
DOI: 10.3367/UFNr.0142.198401g.0159
URL: https://ufn.ru/ru/articles/1984/1/g/
Цитата: Ревокатова И П, Силин А П "Вакуумная туннельная микроскопия — новый метод изучения поверхности твердых тел" УФН 142 159–162 (1984)

BibTexBibNote ® (generic)BibNote ® (RIS)Medline

RefWorks

Русский

English

RT Journal
T1 Вакуумная туннельная микроскопия — новый метод изучения поверхности твердых тел
A1 Ревокатова,И.П.
A1 Силин,А.П.
PB Успехи физических наук
PY 1984
FD 10 Jan, 1984
JF Успехи физических наук
JO Усп. физ. наук
VO 142
IS 1
SP 159-162
DO 10.3367/UFNr.0142.198401g.0159
LK https://ufn.ru/ru/articles/1984/1/g/

English citation: Revokatova I P, Silin A P “Scanning tunneling microscopy: new method for studying solid surfaces” Sov. Phys. Usp. 27 76–78 (1984); DOI: 10.1070/PU1984v027n01ABEH004022