Масс-спектрометрия вторичных ионов

Рецензия на книгу:
Secondary Ion Mass Spectrometry. SIMS-III: Proceedings of the III International Conference / Ed. A. Benninghoven, J. Giber, J. Laszlo, M. Riedel, H. W. Werner.— Berlin; Heidelberg; New York: Springer-Verlag, 1982.— 444 p .— (Springer Series in Chemical Physics. V. 19).

Текст pdf (236 Кб)

Скачивая файл я соглашаюсь с условиями использования.

DOI: 10.3367/UFNr.0138.198212h.0685
URL: https://ufn.ru/ru/articles/1982/12/h/
Цитата: Леонас В Б "Масс-спектрометрия вторичных ионов" УФН 138 685–686 (1982)

BibTexBibNote ® (generic)

BibNote ® (RIS)MedlineRefWorks

Русский

English

TY JOUR
TI Масс-спектрометрия вторичных ионов
AU Леонас, В. Б.
PB Успехи физических наук
PY 1982
JO Успехи физических наук
JF Успехи физических наук
JA Усп. физ. наук
VL 138
IS 12
SP 685-686
UR https://ufn.ru/ru/articles/1982/12/h/
ER https://doi.org/10.3367/UFNr.0138.198212h.0685