Выпуски

 / 

1982

 / 

Декабрь

  

Библиография


Масс-спектрометрия вторичных ионов

Рецензия на книгу:
Secondary Ion Mass Spectrometry. SIMS-III: Proceedings of the III International Conference / Ed. A. Benninghoven, J. Giber, J. Laszlo, M. Riedel, H. W. Werner.— Berlin; Heidelberg; New York: Springer-Verlag, 1982.— 444 p .— (Springer Series in Chemical Physics. V. 19).

Текст pdf (236 Кб)
DOI: 10.3367/UFNr.0138.198212h.0685
URL: https://ufn.ru/ru/articles/1982/12/h/
Цитата: Леонас В Б "Масс-спектрометрия вторичных ионов" УФН 138 685–686 (1982)
BibTexBibNote ® (generic)BibNote ® (RIS)MedlineRefWorks
Русский English
@article{Leonas:1982,
	author = {В. Б. Леонас},
	title = {Масс-спектрометрия вторичных ионов},
	publisher = {Успехи физических наук},
	year = {1982},
	journal = {Усп. физ. наук},
	volume = {138},
	number = {12},
	pages = {685-686},
	url = {https://ufn.ru/ru/articles/1982/12/h/},
	doi = {10.3367/UFNr.0138.198212h.0685}
}
© Успехи физических наук, 1918–2024
Электронная почта: ufn@ufn.ru Телефоны и адреса редакции О журнале Пользовательское соглашение