Масс-спектрометрия вторичных ионов

Рецензия на книгу:
Secondary Ion Mass Spectrometry. SIMS-III: Proceedings of the III International Conference / Ed. A. Benninghoven, J. Giber, J. Laszlo, M. Riedel, H. W. Werner.— Berlin; Heidelberg; New York: Springer-Verlag, 1982.— 444 p .— (Springer Series in Chemical Physics. V. 19).

Текст pdf (236 Кб)

Скачивая файл я соглашаюсь с условиями использования.

DOI: 10.3367/UFNr.0138.198212h.0685
URL: https://ufn.ru/ru/articles/1982/12/h/
Цитата: Леонас В Б "Масс-спектрометрия вторичных ионов" УФН 138 685–686 (1982)

BibTexBibNote ® (generic)BibNote ® (RIS)

MedlineRefWorks

Русский

English

PT Journal Article
TI Масс-спектрометрия вторичных ионов
AU Леонас В Б
FAU Леонас ВБ
DP 10 Dec, 1982
TA Усп. физ. наук
VI 138
IP 12
PG 685-686
RX 10.3367/UFNr.0138.198212h.0685
URL https://ufn.ru/ru/articles/1982/12/h/
SO Усп. физ. наук 1982 Dec 10;138(12):685-686