Масс-спектрометрия вторичных ионов

Рецензия на книгу:
Secondary Ion Mass Spectrometry. SIMS-III: Proceedings of the III International Conference / Ed. A. Benninghoven, J. Giber, J. Laszlo, M. Riedel, H. W. Werner.— Berlin; Heidelberg; New York: Springer-Verlag, 1982.— 444 p .— (Springer Series in Chemical Physics. V. 19).

Текст pdf (236 Кб)

Скачивая файл я соглашаюсь с условиями использования.

DOI: 10.3367/UFNr.0138.198212h.0685
URL: https://ufn.ru/ru/articles/1982/12/h/
Цитата: Леонас В Б "Масс-спектрометрия вторичных ионов" УФН 138 685–686 (1982)

BibTexBibNote ® (generic)BibNote ® (RIS)Medline

RefWorks

Русский

English

RT Journal
T1 Масс-спектрометрия вторичных ионов
A1 Леонас,В.Б.
PB Успехи физических наук
PY 1982
FD 10 Dec, 1982
JF Успехи физических наук
JO Усп. физ. наук
VO 138
IS 12
SP 685-686
DO 10.3367/UFNr.0138.198212h.0685
LK https://ufn.ru/ru/articles/1982/12/h/