Масс-спектрометрия вторичных ионов

Рецензия на книгу:
Secondary Ion Mass Spectrometry. SIMS-III: Proceedings of the III International Conference / Ed. A. Benninghoven, J. Giber, J. Laszlo, M. Riedel, H. W. Werner.— Berlin; Heidelberg; New York: Springer-Verlag, 1982.— 444 p .— (Springer Series in Chemical Physics. V. 19).

Текст pdf (236 Кб)

Скачивая файл я соглашаюсь с условиями использования.

DOI: 10.3367/UFNr.0138.198212h.0685
URL: https://ufn.ru/ru/articles/1982/12/h/
Цитата: Леонас В Б "Масс-спектрометрия вторичных ионов" УФН 138 685–686 (1982)

BibTexBibNote ® (generic)

BibNote ® (RIS)MedlineRefWorks

Русский

English

TY JOUR
TI Mass-spektrometriya vtorichnykh ionov
AU Леонас, В. Б.
PB Uspekhi Fizicheskikh Nauk
PY 1982
JO Uspekhi Fizicheskikh Nauk
JF Uspekhi Fizicheskikh Nauk
JA Usp. Fiz. Nauk
VL 138
IS 12
SP 685-686
UR https://ufn.ru/ru/articles/1982/12/h/
ER https://doi.org/10.3367/UFNr.0138.198212h.0685