Issues

 / 

1970

 / 

June

  

Reviews of topical problems


Scanning electron microscopy

PACS: 07.78.+s, 68.37.Hk, 78.60.Hk, 61.72.Ff, 87.64.Ee (all)
DOI: 10.1070/PU1970v012n06ABEH003971
URL: https://ufn.ru/en/articles/1970/6/d/
Citation: Spivak G V, Saparin G V, Bykov M V "Scanning electron microscopy" Sov. Phys. Usp. 12 756–776 (1970)
BibTexBibNote ® (generic) BibNote ® (RIS)MedlineRefWorks
TY JOUR
TI Scanning electron microscopy
AU Spivak, G. V.
AU Saparin, G. V.
AU Bykov, M. V.
PB Physics-Uspekhi
PY 1970
JO Physics-Uspekhi
JF Physics-Uspekhi
JA Phys. Usp.
VL 12
IS 6
SP 756-776
UR https://ufn.ru/en/articles/1970/6/d/
ER https://doi.org/10.1070/PU1970v012n06ABEH003971

Оригинал: Спивак Г В, Сапарин Г В, Быков М В «Растровая электронная микроскопия» УФН 99 635–672 (1969); DOI: 10.3367/UFNr.0099.196912d.0635

© 1918–2020 Uspekhi Fizicheskikh Nauk
Email: ufn@ufn.ru Editorial office contacts About the journal Terms and conditions