Issues

 / 

1970

 / 

June

  

Reviews of topical problems


Scanning electron microscopy

PACS: 07.78.+s, 68.37.Hk, 78.60.Hk, 61.72.Ff, 87.64.Ee (all)
DOI: 10.1070/PU1970v012n06ABEH003971
URL: https://ufn.ru/en/articles/1970/6/d/
Citation: Spivak G V, Saparin G V, Bykov M V "Scanning electron microscopy" Sov. Phys. Usp. 12 756–776 (1970)
BibTexBibNote ® (generic)BibNote ® (RIS)Medline RefWorks
RT Journal
T1 Scanning electron microscopy
A1 Spivak,G.V.
A1 Saparin,G.V.
A1 Bykov,M.V.
PB Physics-Uspekhi
PY 1970
FD 10 Jun, 1970
JF Physics-Uspekhi
JO Phys. Usp.
VO 12
IS 6
SP 756-776
DO 10.1070/PU1970v012n06ABEH003971
LK https://ufn.ru/en/articles/1970/6/d/

Оригинал: Спивак Г В, Сапарин Г В, Быков М В «Растровая электронная микроскопия» УФН 99 635–672 (1969); DOI: 10.3367/UFNr.0099.196912d.0635

© 1918–2020 Uspekhi Fizicheskikh Nauk
Email: ufn@ufn.ru Editorial office contacts About the journal Terms and conditions