Указатель PACS

61.72.Tt Doping and impurity implantation in germanium and silicon
  1. А.Р. Челядинский, Ф.Ф. Комаров «Дефектно-примесная инженерия в имплантированном кремнии» УФН 173 813–846 (2003)
    61.72.Cc, 61.72.Tt, 61.72.Yx (все)
  2. В.Г. Плеханов «Изотопическая инженерия» УФН 170 1245–1252 (2000)
    42.70.Hj, 42.81.Qb, 61.72.Tt, 66.30.Hs (все)
  3. Б.Н. Мукашев, Х.А. Абдуллин, Ю.В. Горелкинский «Метастабильные и бистабильные дефекты в кремнии» УФН 170 143–155 (2000)
    61.72.−y, 61.72.Tt, 61.80.−x, 71.55.−i (все)
  4. Б.А. Волков «Снова Энциклопедия полупроводников» УФН 154 708–709 (1988)
    01.30.Kj, 61.72.Tt, 61.72.Vv, 72.20.−i, 61.66.Fn (все)
© Успехи физических наук, 1918–2024
Электронная почта: ufn@ufn.ru Телефоны и адреса редакции О журнале Пользовательское соглашение