Описаны принципы работы и возможности рентгеновской рефракционной интроскопии, основанной на использовании кристаллического анализатора в качестве углового фильтра. Рассмотрены способы получения абсорбционного, рефракционного и экстинкционного контраста, различные алгоритмы обработки изображений для осуществления двумерной и трёхмерной визуализации. Приведены примеры использования метода в биомедицине и материаловедении.

Ключевые слова: рентгеновские лучи, рефракция, дифракция, малоугловое рассеяние, интроскопия, кристалл-анализатор, визуализация PACS: 07.85.−m, 41.50.+h, 61.05.C−, 78.20.Bh, 87.59.−e (все) DOI: 10.3367/UFNr.2023.02.039333 URL: https://ufn.ru/ru/articles/2024/4/a/ 001319690400001 2-s2.0-85193994988 2024PhyU...67..325L Цитата: Лидер В В "Рентгеновская рефракционная интроскопия" УФН 194 345–359 (2024) BibTexBibNote ® (generic)BibNote ® (RIS)MedlineRefWorks Поступила: 10 января 2023, доработана: 13 февраля 2023, одобрена в печать: 27 февраля 2023 English citation: Lider V V “X-ray refraction introscopy” Phys. Usp. 67 325–337 (2024); DOI: 10.3367/UFNe.2023.02.039333