Выпуски

 / 

2024

 / 

Апрель

  

Приборы и методы исследований


Рентгеновская рефракционная интроскопия

 
Федеральный научно-исследовательский центр "Кристаллография и фотоника" РАН, Институт кристаллографии им. А.В.Шубникова РАН, Ленинский просп. 59, Москва, 119333, Российская Федерация

Описаны принципы работы и возможности рентгеновской рефракционной интроскопии, основанной на использовании кристаллического анализатора в качестве углового фильтра. Рассмотрены способы получения абсорбционного, рефракционного и экстинкционного контраста, различные алгоритмы обработки изображений для осуществления двумерной и трёхмерной визуализации. Приведены примеры использования метода в биомедицине и материаловедении.

Текст pdf (1,1 Мб)
English fulltext is available at DOI: 10.3367/UFNe.2023.02.039333
Ключевые слова: рентгеновские лучи, рефракция, дифракция, малоугловое рассеяние, интроскопия, кристалл-анализатор, визуализация
PACS: 07.85.−m, 41.50.+h, 61.05.C−, 78.20.Bh, 87.59.−e (все)
DOI: 10.3367/UFNr.2023.02.039333
URL: https://ufn.ru/ru/articles/2024/4/a/
001319690400001
2-s2.0-85193994988
2024PhyU...67..325L
Цитата: Лидер В В "Рентгеновская рефракционная интроскопия" УФН 194 345–359 (2024)
BibTex BibNote ® (generic)BibNote ® (RIS)MedlineRefWorks
Русский English
%0 Journal Article
%T Рентгеновская рефракционная интроскопия
%A В. В. Лидер
%I Успехи физических наук
%D 2024
%J Усп. физ. наук
%V 194
%N 4
%P 345-359
%U https://ufn.ru/ru/articles/2024/4/a/
%U https://doi.org/10.3367/UFNr.2023.02.039333

Поступила: 10 января 2023, доработана: 13 февраля 2023, 27 февраля 2023

English citation: Lider V V “X-ray refraction introscopyPhys. Usp. 67 325–337 (2024); DOI: 10.3367/UFNe.2023.02.039333

© Успехи физических наук, 1918–2024
Электронная почта: ufn@ufn.ru Телефоны и адреса редакции О журнале Пользовательское соглашение