Рентгеновская рефракционная интроскопия

В.В. Лидер^†
Федеральный научно-исследовательский центр "Кристаллография и фотоника" РАН, Институт кристаллографии им. А.В.Шубникова РАН, Ленинский просп. 59, Москва, 119333, Российская Федерация

Описаны принципы работы и возможности рентгеновской рефракционной интроскопии, основанной на использовании кристаллического анализатора в качестве углового фильтра. Рассмотрены способы получения абсорбционного, рефракционного и экстинкционного контраста, различные алгоритмы обработки изображений для осуществления двумерной и трёхмерной визуализации. Приведены примеры использования метода в биомедицине и материаловедении.

Текст pdf (1,1 Мб)

Скачивая файл я соглашаюсь с условиями использования.

Ключевые слова: рентгеновские лучи, рефракция, дифракция, малоугловое рассеяние, интроскопия, кристалл-анализатор, визуализация
PACS: 07.85.−m, 41.50.+h, 61.05.C−, 78.20.Bh, 87.59.−e (все)
DOI: 10.3367/UFNr.2023.02.039333
URL: https://ufn.ru/ru/articles/2024/4/a/
Цитата: Лидер В В "Рентгеновская рефракционная интроскопия" УФН 194 345–359 (2024)

BibTexBibNote ® (generic)BibNote ® (RIS)Medline

RefWorks

Русский

English

RT Journal
T1 Рентгеновская рефракционная интроскопия
A1 Лидер,В.В.
PB Успехи физических наук
PY 2024
FD 10 Apr, 2024
JF Успехи физических наук
JO Усп. физ. наук
VO 194
IS 4
SP 345-359
DO 10.3367/UFNr.2023.02.039333
LK https://ufn.ru/ru/articles/2024/4/a/

Поступила: 10 января 2023, доработана: 13 февраля 2023, одобрена в печать: 27 февраля 2023

English citation: Lider V V “X-ray refraction introscopy” Phys. Usp. 67 (4) (2024); DOI: 10.3367/UFNe.2023.02.039333