RSS-ленты
РусскийEnglish
Выпуск 12, 2024
Том год страница
Выпуски Авторы PACS Подписчикам Для авторов

Выпуски

 / 

2020

 / 

Сентябрь

←  →

Обзоры актуальных проблем


Прецизионное определение параметров кристаллической решётки


Федеральный научно-исследовательский центр "Кристаллография и фотоника" РАН, Институт кристаллографии им. А.В.Шубникова РАН, Ленинский просп. 59, Москва, 119333, Российская Федерация

Описываются и сравниваются прецизионные рентгеновские методы абсолютного и относительного определения параметров кристаллической решётки (межплоскостных расстояний), в том числе метод косселевских проекций (метод дифракции широко расходящегося пучка), метод Бонда, метод Реннингера, метод обратного отражения, интерференционный метод, метод стандартов (эталонов). Показано, что для большинства рассмотренных методов достижима относительная точность определения параметров решётки $\sim 10 ^{-5}-10^{-6}$, причём последние два метода дают гораздо бóльшую точность, $\sim 10 ^{-8}-10^{-9}$.

Текст pdf (1,1 Мб)
English fulltext is available at DOI: 10.3367/UFNe.2019.07.038599
Ключевые слова: рентгеновское излучение, дифракция, угол Брэгга, параметр кристаллической решётки, межплоскостное расстояние
PACS: 06.20.Jr, 07.85.−m, 61.05.cp, 61.50.−f (все)
DOI: 10.3367/UFNr.2019.07.038599
URL: https://ufn.ru/ru/articles/2020/9/d/
000597245700004
2-s2.0-85098656998
2020PhyU...63..907L
Цитата: Лидер В В "Прецизионное определение параметров кристаллической решётки" УФН 190 971–994 (2020)
BibTexBibNote ® (generic)BibNote ® (RIS)MedlineRefWorks

Поступила: 14 мая 2019, доработана: 1 июля 2019, 2 июля 2019

English citation: Lider V V “Precise determination of crystal lattice parameters” Phys. Usp. 63 907–928 (2020); DOI: 10.3367/UFNe.2019.07.038599

Список литературы (298) Статьи, ссылающиеся на эту (7) Похожие статьи (20) ↓

  1. В.В. Лидер «Рентгеновская голография» УФН 185 393–413 (2015)
  2. В.В. Лидер «Многослойные рентгеновские интерференционные структуры» УФН 189 1137–1171 (2019)
  3. Э.В. Суворов, И.А. Смирнова «Дифракционное изображение дефектов в рентгеновской топографии (рентгеновской микроскопии)» УФН 185 897–915 (2015)
  4. М.А. Семина, Р.А. Сурис «Локализованные экситоны и трионы в полупроводниковых наносистемах» УФН 192 121–142 (2022)
  5. Ф.Ф. Комаров «Нано- и микроструктурирование твёрдых тел быстрыми тяжёлыми ионами» УФН 187 465–504 (2017)
  6. А.В. Елецкий «Механические свойства углеродных наноструктур и материалов на их основе» УФН 177 233–274 (2007)
  7. В.Н. Бинги, А.В. Савин «Физические проблемы действия слабых магнитных полей на биологические системы» УФН 173 265–300 (2003)
  8. Н.Г. Птицына, Дж. Виллорези и др. «Естественные и техногенные низкочастотные магнитные поля как факторы, потенциально опасные для здоровья» УФН 168 767–791 (1998)
  9. В.И. Пунегов «Высокоразрешающая рентгеновская дифракция в кристаллических структурах с квантовыми точками» УФН 185 449–478 (2015)
  10. Н.Н. Колачевский «Лабораторные методы поиска дрейфа постоянной тонкой структуры» УФН 174 1171–1190 (2004)
  11. Г.В. Фетисов «Рентгеновские дифракционные методы структурной диагностики материалов: прогресс и достижения» УФН 190 2–36 (2020)
  12. Т.В. Тропин, Ю.В.П. Шмельцер, В.Л. Аксенов «Современные аспекты кинетической теории стеклования» УФН 186 47–73 (2016)
  13. Г.Н. Макаров «Применение лазеров в нанотехнологии: получение наночастиц и наноструктур методами лазерной абляции и лазерной нанолитографии» УФН 183 673–718 (2013)
  14. Ю.Г. Полтавцев «Структура полупроводников в некристаллических состояниях» УФН 120 581–612 (1976)
  15. М.М. Маркина, П.С. Бердоносов и др. «Франциситы как новые геометрически фрустрированные квазидвумерные магнетики» УФН 191 358–371 (2021)
  16. С.Г. Турышев «Экспериментальные проверки общей теории относительности: недавние успехи и будущие направления исследований» УФН 179 3–34 (2009)
  17. И.В. Антонова, А.И. Иванов «Носимые неинвазивные сенсоры глюкозы на основе графена и других углеродных материалов» УФН 194 520–545 (2024)
  18. А.В. Елецкий, А.А. Книжник и др. «Электрические характеристики полимерных композитов, содержащих углеродные нанотрубки» УФН 185 225–270 (2015)
  19. В.Б. Молодкин, А.П. Шпак и др. «Многопараметрическая кристаллография на основе многообразности картины многократного рассеяния брэгговских и диффузных волн (метод стоячих диффузных волн)» УФН 181 681–712 (2011)
  20. А.И. Гусев «Ближний порядок и диффузное рассеяние в нестехиометрических соединениях» УФН 176 717–743 (2006)

Список формируется автоматически.
© Успехи физических наук, 1918–2024
Электронная почта: ufn@ufn.ru Телефоны и адреса редакции О журнале Пользовательское соглашение