Выпуски

 / 

2020

 / 

Сентябрь

  

Обзоры актуальных проблем


Прецизионное определение параметров кристаллической решётки


Институт кристаллографии им. А.В.Шубникова РАН, Ленинский просп. 59, Москва, 119333, Российская Федерация

Описываются и сравниваются прецизионные рентгеновские методы абсолютного и относительного определения параметров кристаллической решётки (межплоскостных расстояний), в том числе метод косселевских проекций (метод дифракции широко расходящегося пучка), метод Бонда, метод Реннингера, метод обратного отражения, интерференционный метод, метод стандартов (эталонов). Показано, что для большинства рассмотренных методов достижима относительная точность определения параметров решётки $\sim 10 ^{-5}-10^{-6}$, причём последние два метода дают гораздо бóльшую точность, $\sim 10 ^{-8}-10^{-9}$.

Текст: pdf
Войдите или зарегистрируйтесь чтобы получить доступ к полным текстам статей.
English fulltext is available at IOP
Ключевые слова: рентгеновское излучение, дифракция, угол Брэгга, параметр кристаллической решётки, межплоскостное расстояние
PACS: 06.20.Jr, 07.85.−m, 61.05.cp, 61.50.−f (все)
DOI: 10.3367/UFNr.2019.07.038599
URL: https://ufn.ru/ru/articles/2020/9/d/
Цитата: Лидер В В "Прецизионное определение параметров кристаллической решётки" УФН 190 971–994 (2020)
BibTexBibNote ® (generic)BibNote ® (RIS)MedlineRefWorks

Поступила: 14 мая 2019, доработана: 1 июля 2019, 2 июля 2019

English citation: Lider V V “Precise determination of crystal lattice parametersPhys. Usp. 63 907–928 (2020); DOI: 10.3367/UFNe.2019.07.038599

Список литературы (298) ↓ Похожие статьи (20)

  1. Schwarzenbach D et al Acta Cryst. A 45 63 (1989)
  2. Hart M J. Cryst. Growth 55 409 (1981)
  3. Fewster P F J. Mater. Sci. Mater. Electron. 10 175 (1999)
  4. Galdecka E International Tables for Crystallography Vol. C (New York: Wiley, 2006) p. 505
  5. Лисойван В И Измерения параметров элементарной ячейки на однокристальном спектрометре (Новосибирск: Наука, 1982)
  6. Kossel W, Loeck V, Voges H Z. Phys. 94 139 (1935)
  7. Kossel W Gött. Nachr. Math. Naturwiss. 1 229 (1935)
  8. Kossel W, Voges H Ann. Physik 23 677 (1935)
  9. Kossel W Ann. Physik 25 512 (1936)
  10. Lonsdale K Philos. Trans. R. Soc. Lond. A 240 219 (1947)
  11. Yakowitz H J. Appl. Phys. 37 4455 (1966)
  12. Tixier R, Waché C J. Appl. Cryst. 3 466 (1970)
  13. Аристов В В, Шехтман В Ш, Шмытько И М Кристаллография 18 706 (1973); Aristov V V, Shekhtman V Sh, Shmyt'ko I M Sov. Phys. Crystallogr. 18 445 (1973)
  14. Пекарев A И, Чистяков Ю Д Заводская лаборатория 35 1075 (1969)
  15. Dingley D J Scanning 1 79 (1978)
  16. Langer E, Däbritz S IOP Conf. Mater. Sci. Eng. 7 012015 (2010)
  17. Лидер В В Кристаллография 56 196 (2011); Lider V V Crystallogr. Rep. 56 169 (2011)
  18. Borrmann G Naturwissenschaften 23 591 (1935)
  19. Borrmann G Ann. Physik 27 669 (1936)
  20. Isherwood B J, Wallace C A Nature 212 173 (1966)
  21. Lamaze J P, Despujols J J. Phys. E 9 41 (1976)
  22. Castaing R Ph.D. Thesis (Paris: Univ. de Paris, 1951)
  23. Castaing R, Guinier A C.R. Acad. Sci. Paris 232 1948 (1951)
  24. Yakowitz H The Divergent Beam (Kossel) X-Ray Method and Its Uses in Measuring Strain Contours in an Individual Grain of Fe-3 Weight Percent Si Transformer Sheet (Washington, DC: National Bureau of Standards, 1973)
  25. Frazer J Z, Keil K, Reid A M Am. Mineral. 54 554 (1969)
  26. Dingley D J, Ferran G Micron 8 145 (1977)
  27. Langer E et al Appl. Surf. Sci. 179 45 (2001)
  28. Böhling M, Bauch J Cryst. Res. Technol. 42 905 (2007)
  29. Bouscaud D et al Ultramicroscopy 115 115 (2012)
  30. Umeno M, Kawabe H, Shinoda G Adv. X-Ray Anal. 9 23 (1966)
  31. Mendelssohn M J, Milledge H J Acta Cryst. A 55 204 (1999)
  32. Лидер В В, Рожанский В Н ФТТ 9 3541 (1967)
  33. Hejna J et al Scanning 8 177 (1986)
  34. Ullrich H-J et al Mikrochim. Acta 107 283 (1992)
  35. Däbritz S, Langer E, Hauffe W J. Anal. At. Spectrom. 14 409 (1999)
  36. Nikl M Meas. Sci. Technol. 17 R37 (2006)
  37. Ullrich H Mikrochim. Acta 101 19 (1990)
  38. Berveiller S et al Mater. Sci. Forum 490-491 159 (2005)
  39. Лидер В В, Чуховский Ф Н, Рожанский В Н ФТТ 19 1231 (1977); Lider V V, Chukhovskii F N, Rozhanskii V N Sov. Phys. Solid State 19 816 (1977)
  40. Hanneman R E, Ogilvie R E, Modrzejewski A J. Appl. Phys. 33 1429 (1962)
  41. Kumakhov M A X-Ray Spectrom. 29 343 (2000)
  42. MacDonald C A X-Ray Opt. Instrum. 2010 1 (2010)
  43. Тернов И М, Михайлин В В Синхротронное излучение. Теория и эксперимент (М.: Энергоатомиздат, 1986)
  44. Langer E et al Appl. Surf. Sci. 252 240 (2005)
  45. Langer E, Haschke M, Däbritz S Microchim. Acta 161 455 (2008)
  46. Bortel G et al J. Synchrotron Rad. 23 214 (2016)
  47. Ullrich H-J, Schlaubitz M, Friedel F Nucl. Instrum. Meth. Phys. Res. A 349 269 (1994)
  48. Bauch J et al Cryst. Res. Technol. 34 71 (1999)
  49. Schetelich Ch, Brenner S, Geist V J. Synchrotron Rad. 5 102 (1998)
  50. Schetelich Ch et al Nucl. Instrum. Meth. Phys. Res. B 103 236 (1995)
  51. Glazer A M et al J. Synchrotron Radiat. 11 187 (2004)
  52. Glazer A M Philos. Trans. R. Soc. Lond. A 373 20140232 (2015)
  53. Bearden J A Rev. Mod. Phys. 39 78 (1967)
  54. Cohen E R, Taylor B N J. Res. Natl. Bureau Stand. 92 85 (1987)
  55. Ullrich H-J et al Krist. Tech. 7 1153 (1972)
  56. Harris N J. Mater. Sci. 10 279 (1975)
  57. Weber S, Schetelich Ch, Geist V Cryst. Res. Technol. 29 727 (1994)
  58. Weber S J. Appl. Cryst. 30 85 (1997)
  59. Langer E, Kurt R, Daebritz S Cryst. Res. Technol. 34 801 (1999)
  60. Maurice C, Fortunier R J Microscopy 230 520 (2008)
  61. Gielen P et al J. Appl. Phys. 36 773 (1965)
  62. Heise B H J. Appl. Phys. 33 697 (1962)
  63. Morris W G J. Appl. Phys. 39 1813 (1968)
  64. Harris N, Kirkham A J J. Appl. Cryst. 4 232 (1971)
  65. Biggin S, Dingley D J J. Appl. Cryst. 10 376 (1977)
  66. Brechbühl J, Bauch J, Ullrich H-J Cryst. Res. Technol. 34 59 (1999)
  67. Heise H J. Appl. Phys. 33 938 (1962)
  68. Lutts A, Gielen P J J. Appl. Cryst. 4 242 (1971)
  69. Spooner F J, Wilson C G J. Appl. Cryst. 6 132 (1973)
  70. Isherwood B J J. Appl. Cryst. 1 299 (1968)
  71. Isherwood B J, Wallace C A Acta Cryst. A 27 119 (1971)
  72. Isherwood B J, Brown B R, Halliwell M A J. Cryst. Growth 54 449 (1981)
  73. Isherwood B J, Brown B R, Halliwell M A J. Cryst. Growth 60 33 (1982)
  74. Glass H L, Moudi L A J. Appl. Cryst. 7 22 (1974)
  75. Yakowitz H J. Appl. Phys. 43 4793 (1972)
  76. Morawiec A, Pesci R, Lecomte J S Ceram. Trans. 201 163 (2008)
  77. Morawiec A J. Appl. Cryst. 49 322 (2016)
  78. Bouscaud D et al J. Appl. Cryst. 47 1699 (2014)
  79. Шехтман В Ш и др ДАН СССР 205 834 (1972)
  80. Newman B A J. Appl. Cryst. 3 191 (1970)
  81. Imura T, Weissmann S, Slade J J (Jr.) Acta Cryst. 15 786 (1962)
  82. Berg H M, Hall E L Adv. X-Ray Anal. 18 454 (1975)
  83. Ellis T et al J. Appl. Phys. 35 3364 (1964)
  84. Kalman Z H et al Metall. Trans. A 19 217 (1988)
  85. Newman B A, Weissmann S J. Appl. Cryst. 1 139 (1968)
  86. Newman B A, Shrier A J. Appl. Cryst. 3 280 (1970)
  87. Koishi Y, Gillies D C Am. Mineral. 64 211 (1979)
  88. Aristov V V, Shmytko I M J. Appl. Cryst. 11 662 (1978)
  89. Lin A L, Donaghey L F J. Electron. Mater. 6 383 (1977)
  90. Лидер В В "Новые возможности применения дифракции широко расходящегося пучка рентгеновских лучей" Дисc. ... канд. физ.-мат. наук (М.: Ин-т кристаллографии им. А.В. Шубникова, АН СССР, 1977)
  91. Пинскер З Г Динамическое рассеяние рентгеновских лучей в идеальных кристаллах (М.: Наука, 1974)
  92. James R W The Optical Principles of the Diffraction of X-Rays (London: Bell, 1967); Пер. на русск. яз., Джеймс Р Оптические принципы дифракции рентгеновских лучей (М.: ИЛ, 1950)
  93. Lutts A J. Appl. Cryst. 6 428 (1973)
  94. Bond W L Acta Cryst. 13 814 (1960)
  95. Baker T W et al Adv. X-Ray Anal. 11 359 (1968)
  96. Segmuller A Adv. X-Ray Anal. 13 455 (1970)
  97. Godwod K, Kowalczyk R, Szmid Z Phys. Status Solidi A 21 227 (1974)
  98. Hubbard C R, Mauer F A J. Appl. Cryst. 9 1 (1976)
  99. Lukaszewicz K et al Krist. Tech. 13 561 (1978)
  100. Bartels W J J. Vac. Sci. Technol. B 1 338 (1983)
  101. Grosswig S et al Cryst. Res. Technol. 18 501 (1983)
  102. Schmidbauer M, Kwasniewski A, Schwarzkopf J Acta Cryst. B 68 8 (2012)
  103. Shikata S et al Jpn. J. Appl. Phys. 57 111301 (2018)
  104. Willoughby A F W, Driscoll C M H, Bellamy B A J. Mater. Sci. 6 1389 (1971)
  105. Nakajima M et al Appl. Phys. Lett. 49 1251 (1986)
  106. Usuda K et al Jpn. J. Appl. Phys. 29 L210 (1990)
  107. Chen N F et al Rigaku J. 13 16 (1996)
  108. Wokulska K et al Solid State Phenom. 163 264 (2010)
  109. Paszkowski R et al Cryst. Res. Technol. 48 413 (2013)
  110. Paszkowski R, Wokulska K, Dec J Cryst. Res. Technol. 52 1600368 (2017)
  111. Kucharczyk D, Niklewski T J. Appl. Cryst. 12 370 (1979)
  112. Ridou C, Rousseau M, Freund A J. Phys. Lett. 38 359 (1977)
  113. Horváth J, Kucharczyk D Phys. Status Solidi A 63 687 (1981)
  114. Pietraszko A et al Phase Transit. 1 99 (1979)
  115. Pietraszko A, Tomaszewski P E, Lukaszewicz K Phase Transit. 2 131 (1981)
  116. Okada Y, Tokumaru Y J. Appl. Phys. 56 314 (1984)
  117. Бублик В Т, Коняева Е П, Смирнов И С Заводская лаборатория 42 284 (1976)
  118. Bublik V T, Wilke J, Pereversev A Phys. Status Solidi A 73 K271 (1982)
  119. Ono F, Maeta H J. Phys. Colloq. 49 C8-63 (1988)
  120. Haruna K et al Jpn. J. Appl. Phys. 31 2527 (1992)
  121. Saotome T et al J. Phys. Condens. Matter 10 1267 (1998)
  122. Giles C et al J. Synchrotron Rad. 12 349 (2005)
  123. Ratuszna A et al Phys. Status Solidi A 54 739 (1979)
  124. Kucharczyk D, Pietraszko A, Lukaszewicz K Phys. Status Solidi A 37 287 (1976)
  125. Åsbrink S, Wolcyrz M, Hong S-H Phys. Status Solidi A 87 135 (1985)
  126. Okada Y, Tokumaru Y, Kadota Y Appl. Phys. Lett. 48 975 (1986)
  127. Yasuami S et al J. Cryst. Growth 100 600 (1990)
  128. Usuda K, Ando M J. Appl. Phys. 80 1352 (1996)
  129. Grosswig S, Härtwig J, Schellenberger U Phys. Status Solidi A 76 241 (1983)
  130. Dressler L, Griebner U, Kittner R Cryst. Res. Technol. 22 1431 (1987)
  131. Morozov A N, Bublik V T J. Cryst. Growth 75 491 (1986)
  132. Морозов А Н и др Кристаллография 28 776 (1983); Morozov A N et al Crystallogr. Rep. 28 458 (1983)
  133. Morozov A N, Abaeva T V, Bublik V T Cryst. Res. Technol. 21 613 (1986)
  134. Бублик В Т и др Изв. АН СССР. Неорганические материалы 20 364 (1984)
  135. Бойко В М и др ФТП 40 769 (2006); Boiko V M et al Semiconductors 40 749 (2006)
  136. Бублик В Ф и др Кристаллография 18 353 (1973); Bublik V F Sov. Phys. Crystallogr. 18 218 (1973)
  137. Анастасьева H A и др Кристаллография 23 314 (1978); Anastas'eva N A et al Crystallogr. Rep. 23 174 (1978)
  138. Арефьев И С и др Кристаллография 32 460 (1987); Aref'ev I S Crystallogr. Rep. 32 267 (1987)
  139. Pillukat A, Karsten K, Ehrhart P Phys. Rev. B 53 7823 (1996)
  140. Karsten K, Ehrhart P Phys. Rev. B 51 10508 (1995)
  141. Бойко В М и др ФТП 40 641 (2006); Boiko V M et al Semiconductors 40 621 (2006)
  142. Бублик В Ф и др Кристаллография 22 1240 (1977); Bublik V F Crystallogr. Rep. 22 705 (1977)
  143. Морозов А Н, Бублик В Ф, Ковальчук И А Кристаллография 31 986 (1986); Morozov A N, Bublik V F, Kovalchuk I A Crystallogr. Rep. 31 586 (1986)
  144. Gaber A et al J. Appl. Phys. 82 5348 (1997)
  145. Mullin J B et al J. Appl. Phys. 47 2584 (1976)
  146. Гайдай Л И и др Электронная техника. Cер. 6 2 84 (1979)
  147. Wilke J et al Cryst. Res. Technol. 18 787 (1983)
  148. Бублик В Ф и др Кристаллография 27 1084 (1982); Bublik V F Crystallogr. Rep. 27 621 (1982)
  149. Celotti G, Nobili D, Ostoja P J. Mater. Sci. 9 821 (1974)
  150. Wolcyrz M, Lukaszewicz K J. Appl. Cryst. 15 406 (1982)
  151. Kucytowski J, Wokulska K Cryst. Res. Technol. 40 424 (2005)
  152. Lefeld-Sosnowska M et al J. Phys. D 34 A144 (2001)
  153. Fewster P F, Willoughby A F W J. Cryst. Growth 50 648 (1980)
  154. Fujii K, Okada Y, Orito F J. Appl. Phys. 73 88 (1993)
  155. Kucytowski J, Wokulska K, Kazmierczak-Balatа A Thin Solid Films 516 8125 (2008)
  156. Kazmierczak-Balata A et al J. Alloys Comp. 481 622 (2009)
  157. Grosswig S et al Cryst. Res. Technol. 18 K28 (1983)
  158. Pihl C F, Bieber R L, Schwuttke G H Phys. Status Solidi A 17 359 (1973)
  159. Baker T W et al Nature 210 720 (1966)
  160. Baker T W et al AERE-R 5152, Atomic Energy Res. Establ., Harwell (Berkshire, 1969)
  161. Burke J, Tomkeieff M V Acta Cryst. A 24 683 (1968)
  162. Burke J, Tomkeieff M V J. Appl. Cryst. 2 247 (1969)
  163. Gruber E E, Black R E J. Appl. Cryst. 3 354 (1970)
  164. Filscher G, Unangst D Krist. Tech. 15 955 (1980)
  165. Bradaczek H, Leps B, Uebach W Z. Naturforsch. A 37 448 (1982)
  166. Nemiroff M J. Appl. Cryst. 15 375 (1982)
  167. Berger H J. Appl. Cryst. 19 34 (1986)
  168. Grosswig S, Jäckel K-H, Kittner R Cryst. Res. Technol. 21 133 (1986)
  169. Hartwig J, Grosswig S Phys. Status Solidi A 115 369 (1989)
  170. Galdecka E Acta Cryst. A 49 106 (1993)
  171. Galdecka E Acta Cryst. A 49 116 (1993)
  172. Мильвидский А М Методы исследования структур кристаллов. Фазовый анализ и прецизионные измерения параметра решетки. Лаб. практикум (М.: Учеба МИСиС, 2005)
  173. Härtwig J et al Phys. Status Solidi A 125 79 (1991)
  174. Shvyd'ko Yu V et al Phys. Rev. Lett. 85 495 (2000)
  175. Pacek P et al Solid State Phenom. 130 73 (2007)
  176. Paszkowski R et al J. Cryst. Growth 401 327 (2014)
  177. Bowen D K, Tanner B K High Resolution X-Ray Diffractometry and Topography (London: Taylor and Francis, 1998); Пер. на русск. яз., Боуэн Д К, Таннер Б К Высокоразрешающая рентгеновская дифрактометрия и топография (СПб.: Наука, 2002)
  178. Лидер В В Заводская лаборатория 74 31 (2008)
  179. Nakayama K et al Z. Naturforsch. A 28 632 (1973)
  180. Zhang X et al J. Appl. Crystallogr. 36 188 (2003)
  181. Блохин М А, Швейцер И Г Рентгеноспектральный справочник (М.: Наука, 1982)
  182. Ando M et al Rev. Sci. Instrum. 60 2410 (1989)
  183. Usuda K et al J. Appl. Phys. 69 182 (1991)
  184. Okada Y et al Nucl. Instrum. Meth. Phys. Res. A 467-468 1037 (2001)
  185. Obaidur R M J. Synchrotron Radiat. 9 28 (2002)
  186. Berger H J. Appl. Cryst. 17 451 (1984)
  187. Soller W Phys. Rev. 24 158 (1924)
  188. Berger H, Christ B, Troschke J Cryst. Res. Technol. 17 1233 (1982)
  189. Härtwig J et al Phys. Status Solidi A 142 19 (1994)
  190. Fewster P F J. Appl. Cryst. 22 64 (1989)
  191. Fewster P F, Andrew N L J. Appl. Cryst. 28 451 (1995)
  192. Fewster P F, Andrew N L J. Phys. D 28 A97 (1995)
  193. Fatemi M Acta Cryst. A 61 301 (2005)
  194. Kohra K, Matsushita T Z. Naturforsch. A 27 484 (1972)
  195. Shvyd'ko Y "X-ray resonators and other applications of Bragg backscattering" Report DESY-THESIS-2002-028 (Hamburg: DESY, 2002)
  196. Shvyd'ko Yu X-Ray Optics. High-Energy-Resolution Applications (Berlin: Springer, 2004)
  197. Лидер В В Кристаллография 57 705 (2012); Lider V V Crystallogr. Rep. 57 628 (2012)
  198. Sykora B, Peisl H Z. Angew. Phys. 30 320 (1970)
  199. Bottom V E, Carvalho R A Rev. Sci. Instrum. 42 196 (1971)
  200. Freund A, Schneider J J. Cryst. Growth 13-14 247 (1972)
  201. Okazaki A, Kawaminami M Jpn. J. Appl. Phys. 12 783 (1973)
  202. Okazaki A, Ohama N J. Appl. Cryst. 12 450 (1979)
  203. Ohama N, Sakashita H, Okazaki A J. Appl. Cryst. 12 455 (1979)
  204. Okazaki A, Soejima Y Acta Cryst. A 57 708 (2001)
  205. Munakata K, Okazaki A Acta Cryst. A 60 33 (2004)
  206. Sakashita H, Ohama N, Okazak A J. Phys. Soc. Jpn. 50 4013 (1981)
  207. Ohama N, Sakashita H, Okazaki A Phase Transit. 4 81 (1984)
  208. Sato M et al Phase Transit. 5 207 (1985)
  209. Soejima Y et al Z. Kristallogr. 195 161 (1991)
  210. Tomonaga N, Soejima Y, Okazaki A Phase Transit. 28 51 (1990)
  211. Onitsuka H et al Phase Transit. 47 93 (1994)
  212. Kohno A et al Nuovo Cimento D 19 293 (1997)
  213. Стецко Ю П, Кшевецкий С А, Михайлюк И П Письма в ЖТФ 14 29 (1988); Stetsko Yu P, Kshevetskii S A, Mikhailyuk I P Sov. Tech. Phys. Lett. 14 13 (1988)
  214. Shvyd'ko Y V et al J. Synchrotron Radiat. 9 17 (2002)
  215. Lucht M et al J. Appl. Cryst. 36 1075 (2003)
  216. Hastings J B et al Phys. Rev. Lett. 66 770 (1991)
  217. Швыдько Ю В и др Письма в ЖЭТФ 53 69 (1991); Shvyd'ko Yu V et al JETP Lett. 53 69 (1991)
  218. Baron A Q R Hyperfine Interact. 125 29 (2000)
  219. Wille H-C et al Phys. Rev. Lett. 89 285901 (2002)
  220. Hu M Y et al Phys. Rev. B 67 113306 (2003)
  221. Stoupin S, Shvyd'ko Yu V Phys. Rev. Lett. 104 085901 (2010)
  222. Stoupin S, Shvyd'ko Yu V Phys. Rev. B 83 104102 (2011)
  223. Mohr P J, Taylor B N Rev. Mod. Phys. 72 351 (2000)
  224. Toellner T S Hyperfine Interact. 125 3 (2000)
  225. Toellner T S, Alatas A, Said A H J. Synchrotron Radiat. 18 605 (2011)
  226. Isomae S et al J. Appl. Cryst. 9 342 (1976)
  227. Лидер В В Кристаллография 39 406 (1994); Lider V V Crystallogr. Rep. 39 352 (1994)
  228. Зозуля А В, Лидер В В, Ковальчук М В Поверхность. Рентген., синхротр. и нейтр. исслед. (12) 28 (2002)
  229. Благов А Е и др Кристаллография 55 1133 (2010); Blagov A E Crystallogr. Rep. 55 1074 (2010)
  230. Zhang X et al AIP Conf. Proc. 1234 895 (2010)
  231. Fujimoto H, Waseda A, Zhang X W Metrologia 48 S55 (2011)
  232. Waseda A et al IEEE Trans. Instrum. Meas. 64 1692 (2015)
  233. Waseda A et al IEEE Trans. Instrum. Meas. 66 1304 (2017)
  234. Yang J et al AIP Conf. Proc. 2054 060016 (2019)
  235. Терминасов Ю С, Тузов Л В УФН 83 223 (1964); Terminasov Yu S, Tuzov L V Sov. Phys. Usp. 7 434 (1964)
  236. Chang S-L Multiple Diffraction of X-Rays in Crystals (Berlin: Springer-Verlag, 1984); Пер. на русск. яз., Чжан Ш Многоволновая дифракция рентгеновских лучей в кристаллах (М.: Мир, 1987)
  237. Yang C-Z, Hao J-M, Pei G-W Rigaku J. 17 46 (2000)
  238. Renninger M Z. Phys. 106 141 (1937)
  239. Cole H, Chambers F H, Dunn H M Acta Cryst. 15 138 (1962)
  240. Post B J. Appl. Cryst. 8 452 (1975)
  241. Rossmanith E J. Appl. Cryst. 32 355 (1999)
  242. Rossmanith E J. Appl. Cryst. 36 1467 (2003)
  243. Кшевецкий С А и др Укр. физ. журн. 24 1480 (1979)
  244. Кшевецкий С А и др Укр. физ. журн. 30 1843 (1985)
  245. Borcha M et al Proc. SPIE 7008 700819 (2008)
  246. Hom T, Kiszenik W, Post B J. Appl. Cryst. 8 457 (1975)
  247. Sasaki J M et al J. Cryst. Growth 172 284 (1997)
  248. Morelhão S L et al Microelectron. J. 36 219 (2005)
  249. Freitas R O et al Phys. Status Solidi A 204 2548 (2007)
  250. Avanci L H et al Phys. Rev. B 61 6507 (2000)
  251. Hart M Proc. R. Soc. Lond. A 346 1 (1975)
  252. Siddons D P AIP Conf. Proc. 75 236 (1981)
  253. Лидер В В УФН 184 1217 (2014); Lider V V Phys. Usp. 57 1099 (2014)
  254. Cavagnero G et al Metrologia 41 56 (2004)
  255. Hart M Brit. J. Appl. Phys. 1 1405 (1968)
  256. Hart M, Siddons D P Proc. R. Soc. Lond. A 376 465 (1980)
  257. Bonse U, Lotsch H, Henning A J. X-Ray Sci. Technol. 1 107 (1989)
  258. Baker J F C, Hart M Acta Cryst. A 31 364 (1975)
  259. Deslattes R D Appl. Phys. Lett. 15 386 (1969)
  260. Deslattes R D, Henins A Phys. Rev. Lett. 31 972 (1973)
  261. Basile G et al IEEE Trans. Instrum. Meas. 38 210 (1989)
  262. Bergamin A et al Eur. Phys. J. B 9 225 (1999)
  263. Schwarzenberger D R, Chetwynd D G, Bowen D K J. X-Ray Sci. Technol. 1 134 (1989)
  264. Yacoot A, Kuetgens U Meas. Sci. Technol. 23 074003 (2012)
  265. Bonse U, te Kaat E Z. Phys. 214 16 (1968)
  266. Becker P, Mana G Metrologia 31 203 (1994)
  267. Ferroglio L, Mana G, Massa E Opt. Express 16 16877 (2008)
  268. Massa E et al Metrologia 48 S37 (2011)
  269. Massa E et al J. Phys. Chem. Ref. Data 44 031208 (2015)
  270. Fujii K et al Metrologia 55 L1 (2018)
  271. Quagliotti D et al Metrologia 50 243 (2013)
  272. Melis C et al Metrologia 53 1339 (2016)
  273. Buschert R C Bull. Am. Phys. Soc. 10 125 (1965)
  274. Hart M Proc. R. Soc. Lond. A 309 281 (1969)
  275. Buschert R C et al J. Appl. Cryst. 16 599 (1983)
  276. Ando M, Bailey D, Hart M Acta Cryst. A 34 484 (1978)
  277. Häusermann D, Hart M J. Appl. Cryst. 23 63 (1990)
  278. Ковальчук М В, Ковьев Э К, Пинскер З Г Кристаллография 20 142 (1975); Koval'chuk M V, Kov'ev E K, Pinsker Z G Sov. Phys. Crystallogr. 20 81 (1975)
  279. Buschert R C et al Phys. Rev. B 38 5219 (1988)
  280. Larson B C J. Appl. Phys. 45 514 (1974)
  281. Baker J F C et al Solid-State Electron. 19 331 (1976)
  282. Cembali F et al J. Appl. Cryst. 25 424 (1992)
  283. Kishino S Adv. X-Ray Anal. 16 367 (1973)
  284. Popovic S J. Appl. Cryst. 4 240 (1971)
  285. Fukumori T, Futagami K, Matsunaga K Jpn. J. Appl. Phys. 21 1525 (1982)
  286. Fukumori T, Futagami K Jpn. J. Appl. Phys. 27 442 (1988)
  287. Fukumori T et al J. Phys. Soc. Jpn. 66 1976 (1997)
  288. Becker P, Scyfried P, Siegert H Z. Phys. B 48 17 (1982)
  289. Siegert H, Becker P, Seyfried P Z. Phys. B 56 273 (1984)
  290. Kubena J, Holý V J. Appl. Cryst. 21 245 (1988)
  291. Kessler E G et al J. Res. Natl. Inst. Stand. Technol. 99 1 (1994)
  292. Martin J et al Metrologia 35 811 (1998)
  293. Kessler E G et al IEEE Trans. Instrum. Meas. 48 221 (1999)
  294. Mana G, Palmisano C, Zosi G J. Appl. Cryst. 37 773 (2004)
  295. Hanke M, Kessler E G J. Phys. 38 A117 (2005)
  296. Kessler E G et al J. Res. Natl. Inst. Stand. Technol. 122 1 (2017)
  297. Bonse U et al Phys. Status Solidi A 43 487 (1977)
  298. Massa E et al Metrologia 48 S44 (2011)

© Успехи физических наук, 1918–2021
Электронная почта: ufn@ufn.ru Телефоны и адреса редакции О журнале Пользовательское соглашение