Многослойные рентгеновские интерференционные структуры

В.В. Лидер
Федеральный научно-исследовательский центр "Кристаллография и фотоника" РАН, Институт кристаллографии им. А.В.Шубникова РАН, Ленинский просп. 59, Москва, 119333, Российская Федерация

Рассмотрены принципы функционирования, современное состояние и проблемы в области многослойной рентгеновской оптики. Обсуждаются методы оптимизации планарных многослойных интерференционных структур и многослойных дифракционных решёток, их применение в науке и технике.

Текст pdf (1,4 Мб)

Скачивая файл я соглашаюсь с условиями использования.

English fulltext is available at DOI: 10.3367/UFNe.2018.10.038439

Ключевые слова: многослойные системы, дифракционные решётки, рентгеновское излучение, рентгеновская оптика, дифракция, интерференция, спектральное разрешение
PACS: 07.85.−m, 41.50.+h, 42.79.Dj, 42.88.+h, 61.05.cp, 78.20.Bh, 78.67.Pt, 95.55.Ka (все)
DOI: 10.3367/UFNr.2018.10.038439
URL: https://ufn.ru/ru/articles/2019/11/a/
Web of Science

000518757700001
Scopus

2-s2.0-85083341825
Цитата: Лидер В В "Многослойные рентгеновские интерференционные структуры" УФН 189 1137–1171 (2019)

BibTexBibNote ® (generic)BibNote ® (RIS)Medline

RefWorks

Русский

English

RT Journal
T1 Многослойные рентгеновские интерференционные структуры
A1 Лидер,В.В.
PB Успехи физических наук
PY 2019
FD 10 Nov, 2019
JF Успехи физических наук
JO Усп. физ. наук
VO 189
IS 11
SP 1137-1171
DO 10.3367/UFNr.2018.10.038439
LK https://ufn.ru/ru/articles/2019/11/a/

Поступила: 12 июля 2018, доработана: 24 сентября 2018, одобрена в печать: 4 октября 2018

English citation: Lider V V “Multilayer X-ray interference structures” Phys. Usp. 62 1063–1095 (2019); DOI: 10.3367/UFNe.2018.10.038439