Многослойные рентгеновские интерференционные структуры

В.В. Лидер
Федеральный научно-исследовательский центр "Кристаллография и фотоника" РАН, Институт кристаллографии им. А.В.Шубникова РАН, Ленинский просп. 59, Москва, 119333, Российская Федерация

Рассмотрены принципы функционирования, современное состояние и проблемы в области многослойной рентгеновской оптики. Обсуждаются методы оптимизации планарных многослойных интерференционных структур и многослойных дифракционных решёток, их применение в науке и технике.

Текст pdf (1,4 Мб)

Скачивая файл я соглашаюсь с условиями использования.

English fulltext is available at DOI: 10.3367/UFNe.2018.10.038439

Ключевые слова: многослойные системы, дифракционные решётки, рентгеновское излучение, рентгеновская оптика, дифракция, интерференция, спектральное разрешение
PACS: 07.85.−m, 41.50.+h, 42.79.Dj, 42.88.+h, 61.05.cp, 78.20.Bh, 78.67.Pt, 95.55.Ka (все)
DOI: 10.3367/UFNr.2018.10.038439
URL: https://ufn.ru/ru/articles/2019/11/a/
Web of Science

000518757700001
Scopus

2-s2.0-85083341825
Цитата: Лидер В В "Многослойные рентгеновские интерференционные структуры" УФН 189 1137–1171 (2019)

BibTexBibNote ® (generic)BibNote ® (RIS)MedlineRefWorks

Поступила: 12 июля 2018, доработана: 24 сентября 2018, одобрена в печать: 4 октября 2018

English citation: Lider V V “Multilayer X-ray interference structures” Phys. Usp. 62 1063–1095 (2019); DOI: 10.3367/UFNe.2018.10.038439