O многократных внутренних отражениях туннелирующих частиц и фотонов в одномерном, двухмерном и трёхмерном туннелировании
В.С. Ольховский
Институт ядерных исследований НАН Украины, просп. Науки 47, Киев, 30650, Украина
Проведён анализ исследований многократных внутренних отражений при туннелировании частиц и фотонов в одномерном, двумерном и трёхмерном случаях. Представлены результаты, полученные с использованием зависящего от времени уравнения Шрёдингера для нерелятивистских частиц и зависящего от времени уравнения Гельмгольца для электромагнитных волн. Приведены выводы и рассмотрены дальнейшие перспективы исследований.
|