O многократных внутренних отражениях туннелирующих частиц и фотонов в одномерном, двухмерном и трёхмерном туннелировании
В.С. Ольховский Институт ядерных исследований НАН Украины, просп. Науки 47, Киев, 30650, Украина
Проведён анализ исследований многократных внутренних отражений при туннелировании частиц и фотонов в одномерном, двумерном и трёхмерном случаях. Представлены результаты, полученные с использованием зависящего от времени уравнения Шрёдингера для нерелятивистских частиц и зависящего от времени уравнения Гельмгольца для электромагнитных волн. Приведены выводы и рассмотрены дальнейшие перспективы исследований.
PACS:03.65.Xp, 42.25.−p, 42.50.Xa (все) DOI:10.3367/UFNr.0184.201411h.1255 URL: https://ufn.ru/ru/articles/2014/11/h/ Цитата: Ольховский В С "O многократных внутренних отражениях туннелирующих частиц и фотонов в одномерном, двухмерном и трёхмерном туннелировании" УФН184 1255–1264 (2014)