Наличие метода, обеспечивающего возможность контролируемого создания объемного «рисунка», состоящего из областей с требуемыми физическими и химическими свойствами, является ключевым условием для радикального прогресса в технологиях XXI века. Это особенно актуально, если метод позволяет обеспечить создание таких областей с размерами вплоть до нанометровых. В нашей работе впервые предлагается способ целенаправленной прямой трансформации наиболее важных физических свойств материалов, таких как электрические, магнитные, оптические и др., за счет радикального изменения атомного состава твердых тел. Физические основы новой технологии связаны с открытым нами эффектом селективного удаления атомов из тонких пленок двух- или многоатомных соединений пучками ускоренных частиц. Возможности этого метода исследованы и подтверждены нашими многочисленными экспериментами. В частности, показано, что селективное удаление атомов определенного сорта позволяет целенаправленно переводить диэлектрики в металлы или полупроводники, немагнитные материалы — в магнитные, а также радикально изменять оптические характеристики материалов и ряд других свойств. Возможность селективного удаления атомов определенного сорта из вещества представляет большой интерес для технологий будущего, в первую очередь, связанных с потребностями как наноэлектроники, так и с множеством «нанопроблем» третьего тысячелетия.

PACS: 61.80.Jh, 61.82.Ms, 68.55.−a, 73.50.−h, 73.61.−r, 79.20.Rf, 81.05.−t (все) DOI: 10.3367/UFNr.0171.200101d.0105 URL: https://ufn.ru/ru/articles/2001/1/d/ 000167145400004 Цитата: Гурович Б А, Долгий Д И, Кулешова Е А, Велихов Е П, Ольшанский Е Д, Домантовский А Г, Аронзон Б А, Мейлихов Е З "Управляемая трансформация электрических, магнитных и оптических свойств материалов ионными пучками" УФН 171 105–117 (2001) BibTexBibNote ® (generic)BibNote ® (RIS)MedlineRefWorks English citation: Gurovich B A, Dolgii D I, Kuleshova E A, Velikhov E P, Ol’shanskii E D, Domantovskii A G, Aronzon B A, Meilikhov E Z “Controlled ion-beam transformation of electrical, magnetic, and optical materials properties” Phys. Usp. 44 95–105 (2001); DOI: 10.1070/PU2001v044n01ABEH000868