Выпуски

 / 

2001

 / 

Январь

  

Приборы и методы исследований


Управляемая трансформация электрических, магнитных и оптических свойств материалов ионными пучками

, , , , , , ,
Национальный исследовательский центр «Курчатовский институт», пл. акад. Курчатова 1, Москва, 123182, Российская Федерация

Наличие метода, обеспечивающего возможность контролируемого создания объемного «рисунка», состоящего из областей с требуемыми физическими и химическими свойствами, является ключевым условием для радикального прогресса в технологиях XXI века. Это особенно актуально, если метод позволяет обеспечить создание таких областей с размерами вплоть до нанометровых. В нашей работе впервые предлагается способ целенаправленной прямой трансформации наиболее важных физических свойств материалов, таких как электрические, магнитные, оптические и др., за счет радикального изменения атомного состава твердых тел. Физические основы новой технологии связаны с открытым нами эффектом селективного удаления атомов из тонких пленок двух- или многоатомных соединений пучками ускоренных частиц. Возможности этого метода исследованы и подтверждены нашими многочисленными экспериментами. В частности, показано, что селективное удаление атомов определенного сорта позволяет целенаправленно переводить диэлектрики в металлы или полупроводники, немагнитные материалы — в магнитные, а также радикально изменять оптические характеристики материалов и ряд других свойств. Возможность селективного удаления атомов определенного сорта из вещества представляет большой интерес для технологий будущего, в первую очередь, связанных с потребностями как наноэлектроники, так и с множеством «нанопроблем» третьего тысячелетия.

Текст: pdf
Войдите или зарегистрируйтесь чтобы получить доступ к полным текстам статей.
English fulltext is available at IOP
PACS: 61.80.Jh, 61.82.Ms, 68.55.−a, 73.50.−h, 73.61.−r, 79.20.Rf, 81.05.−t (все)
DOI: 10.3367/UFNr.0171.200101d.0105
URL: https://ufn.ru/ru/articles/2001/1/d/
Цитата: Гурович Б А, Долгий Д И, Кулешова Е А, Велихов Е П, Ольшанский Е Д, Домантовский А Г, Аронзон Б А, Мейлихов Е З "Управляемая трансформация электрических, магнитных и оптических свойств материалов ионными пучками" УФН 171 105–117 (2001)
BibTexBibNote ® (generic)BibNote ® (RIS)MedlineRefWorks

English citation: Gurovich B A, Dolgii D I, Kuleshova E A, Velikhov E P, Ol’shanskii E D, Domantovskii A G, Aronzon B A, Meilikhov E Z “Controlled ion-beam transformation of electrical, magnetic, and optical materials propertiesPhys. Usp. 44 95–105 (2001); DOI: 10.1070/PU2001v044n01ABEH000868

Список литературы (27) ↓ Статьи, ссылающиеся на эту (27) Похожие статьи (9)

  1. Пчеляков О П УФН 170 993 (2000)
  2. Rabalais J W et al. Phys. Rev. B 53 10781 (1996)
  3. Haynes T E et al. Appl. Phys. Lett. 54 1439 (1989)
  4. Леденцов Н Н и др. УФН 166 423 (1996)
  5. Grundmann M et al. Phys. Rev. Lett. 74 4043 (1995)
  6. Цырлин Г Э и др. ФТП 33 1083 (1999)
  7. Бимберг Д и др. УФН 167 552 (1997)
  8. Латышев А В, Асеев А Л УФН 168 1117 (1998)
  9. Богомолов В Н и др. ФТТ 42 (2) (2001); Богомолов В Н и др. Патент РФ 2153208 (1999)
  10. Ландау Л Д, Лифшиц Е М Механика (М.: Наука, 1973)
  11. Thompson M W Defects and Radiation Damage in Metals (London: Cambridge Univ. Press, 1969)
  12. Клингер М И и др. УФН 147 523 (1985)
  13. Maissel L I, Glang R (Eds) Handbook of Thin Film Technology (New York: McGraw-Hill, 1970)
  14. Хирш П и др. Электронная микроскопия тонких кристаллов (М.: Мир, 1968)
  15. Wiesendanger R, Güntherodt H-J (Eds) Scanning Tunneling Microscopy II: Further Applications and Related Scanning Techniques (Springer Series in Surface Sciences, 28) (Berlin: Springer, 1992)
  16. Briggs D, Seah M P (Eds) Practical Surface Analysis: by Auger and X-ray Photoelectron Spectroscopy (New York: Wiley, 1983)
  17. Сhopra K L, Randlett M R, Duff R N Philos. Mag. 16 261 (1967)
  18. Сhopra K L, Randlett M R, Duff R N Appl. Phys. Lett. 9 402 (1966)
  19. Cahn RW Contemp. Phys. 21 43 (1980)
  20. Abrikosov A A Fundamentals of the Theory of Metals (Amsterdam: North-Holland, 1988)
  21. Altshuler B L, Aronov A G Electron-Electron Interactions in Disordered Systems (Modern Problems in Condensed Matter Sciences, Vol. 10, Eds A L Efros, M Pollak) (Amsterdam: North-Holland, 1985)
  22. Анненков Ю М и др. Физика и химия обработки материалов (5) 5 (1999)
  23. Pichugin V F et al. Nucl. Instrum. Meth. B 80-81 1203 (1993)
  24. Анненков Ю М и др. Физика и химия обработки материалов (6) 9 (1994)
  25. Заводчиков В Н и др. Письма в ЖТФ 22 7 (1996)
  26. Cahn R W, Haasen P (Eds) Physical Metallurgy 3rd ed. (Amsterdam: North-Holland, 1983)
  27. Валиев К А Физика субмикронной литографии (М.: Наука, 1990)

© Успехи физических наук, 1918–2020
Электронная почта: ufn@ufn.ru Телефоны и адреса редакции О журнале Пользовательское соглашение