Обсуждаются физическая природа, возможности и перспективы применения нового метода исследования структуры кристаллов и тонких приповерхностных слоев, основанного на регистрации вторичных излучений, таких, как внешняя и внутренняя фотоэлектронная эмиссия, а также рентгеновская флуоресценция, в условиях динамической дифракции рентгеновских лучей в монокристаллах, когда интенсивность поля излучения в кристалле копирует периодичность кристаллической решетки в виде стоячей волны вдоль вектора дифракции. Метод позволяет измерять абсолютные смещения атомных плоскостей в кристалле на доли ангстрема, а также определять степень порядка в расположении атомов в приповерхностном слое. Наряду с изложением истории вопроса и обзором наиболее важных работ, опубликованных в этой области за последние двадцать лет, достаточно подробно изложены вопросы теории и экспериментальной техники метода стоячих рентгеновских волн. Ил. 19. Библиогр. ссылок 140.

RT Journal
T1 X-ray standing waves—a new method of studying the structure of crystals
A1 Koval’chuk,M.V.
A1 Kohn,V.G.
PB Uspekhi Fizicheskikh Nauk
PY 1986
FD 10 May, 1986
JF Uspekhi Fizicheskikh Nauk
JO Usp. Fiz. Nauk
VO 149
IS 5
SP 69-103
DO 10.3367/UFNr.0149.198605c.0069
LK https://ufn.ru/ru/articles/1986/5/c/