Обсуждаются физическая природа, возможности и перспективы применения нового метода исследования структуры кристаллов и тонких приповерхностных слоев, основанного на регистрации вторичных излучений, таких, как внешняя и внутренняя фотоэлектронная эмиссия, а также рентгеновская флуоресценция, в условиях динамической дифракции рентгеновских лучей в монокристаллах, когда интенсивность поля излучения в кристалле копирует периодичность кристаллической решетки в виде стоячей волны вдоль вектора дифракции. Метод позволяет измерять абсолютные смещения атомных плоскостей в кристалле на доли ангстрема, а также определять степень порядка в расположении атомов в приповерхностном слое. Наряду с изложением истории вопроса и обзором наиболее важных работ, опубликованных в этой области за последние двадцать лет, достаточно подробно изложены вопросы теории и экспериментальной техники метода стоячих рентгеновских волн. Ил. 19. Библиогр. ссылок 140.

%0 Journal Article
%T X-ray standing waves—a new method of studying the structure of crystals
%A M. V. Koval’chuk
%A V. G. Kohn
%I Uspekhi Fizicheskikh Nauk
%D 1986
%J Usp. Fiz. Nauk
%V 149
%N 5
%P 69-103
%U https://ufn.ru/ru/articles/1986/5/c/
%U https://doi.org/10.3367/UFNr.0149.198605c.0069