Рецензия: В. Л. Бонч-Бруевич, И. П. Звягин, А.Г. Миронов. Доменная электрическая неустойчивость в полупроводниках. М., «Наука», 1972, 414 с.
Воспроизведение материалов из журнала УФН в любой форме требует письменного разрешения редакции УФН.
Преподаватели, студенты и исследователи в индивидуальном порядке могут использовать материалы, находящиеся на сайте УФН, для некоммерческого использования в своей преподавательской или исследовательской деятельности.
Прочесть полный текст пользовательского соглашения.