Рецензия: В. Л. Бонч-Бруевич, И. П. Звягин, А.Г. Миронов. Доменная электрическая неустойчивость в полупроводниках. М., «Наука», 1972, 414 с.
Воспроизведение материалов из журнала УФН в любой форме требует письменного разрешения редакции УФН.
Преподаватели, студенты и исследователи в индивидуальном порядке могут использовать материалы, находящиеся на сайте УФН, для некоммерческого использования в своей преподавательской или исследовательской деятельности.
Прочесть полный текст пользовательского соглашения.
@article{Bass:1973, author = {Ф. Г. Басс}, title = {Доменная электрическая неустойчивость в полупроводниках}, publisher = {Успехи физических наук}, year = {1973}, journal = {Усп. физ. наук}, volume = {109}, number = {2}, pages = {423-423}, url = {https://ufn.ru/ru/articles/1973/2/o/}, doi = {10.3367/UFNr.0109.197302o.0423} }