Рецензия: В. Л. Бонч-Бруевич, И. П. Звягин, А.Г. Миронов. Доменная электрическая неустойчивость в полупроводниках. М., «Наука», 1972, 414 с.
Воспроизведение материалов из журнала УФН в любой форме требует письменного разрешения редакции УФН.
Преподаватели, студенты и исследователи в индивидуальном порядке могут использовать материалы, находящиеся на сайте УФН, для некоммерческого использования в своей преподавательской или исследовательской деятельности.
Прочесть полный текст пользовательского соглашения.
%0 Journal Article %T Доменная электрическая неустойчивость в полупроводниках %A Ф. Г. Басс %I Успехи физических наук %D 1973 %J Усп. физ. наук %V 109 %N 2 %P 423-423 %U https://ufn.ru/ru/articles/1973/2/o/ %U https://doi.org/10.3367/UFNr.0109.197302o.0423