Используя вторичные электроны, образованные рентгеновскими лучами попадающими на исследуемое изделие, можно получать замечательныекартины, рисующие структуру объекта. Различают два метода подобной съёмки: просвечивание вторичными электронами исследуемого объекта в фиксация картины, создаваемой отражёнными вторичными электронами. Полученные картины, похожие несколько на микрофотографии, называют микрорадиограммами.
Этому методу исследования поверхности изделия или строения достаточно прозрачного объекта — около 8 лет. За это время была получена уверенность в целесообразности его применения для весьма большого числа случаев. числа случаев.

RT Journal
T1 Микрорадиография вторичными электронами
A1 ,А.К.
PB Успехи физических наук
PY 1949
FD 10 Feb, 1949
JF Успехи физических наук
JO Усп. физ. наук
VO 37
IS 2
SP 259-261
DO 10.3367/UFNr.0037.194902e.0259
LK https://ufn.ru/ru/articles/1949/2/e/