Микрорадиография вторичными электронами

Используя вторичные электроны, образованные рентгеновскими лучами попадающими на исследуемое изделие, можно получать замечательныекартины, рисующие структуру объекта. Различают два метода подобной съёмки: просвечивание вторичными электронами исследуемого объекта в фиксация картины, создаваемой отражёнными вторичными электронами. Полученные картины, похожие несколько на микрофотографии, называют микрорадиограммами.
Этому методу исследования поверхности изделия или строения достаточно прозрачного объекта — около 8 лет. За это время была получена уверенность в целесообразности его применения для весьма большого числа случаев. числа случаев.

Текст pdf (269 Кб)

Скачивая файл я соглашаюсь с условиями использования.

DOI: 10.3367/UFNr.0037.194902e.0259
URL: https://ufn.ru/ru/articles/1949/2/e/
Цитата: А К "Микрорадиография вторичными электронами" УФН 37 259–261 (1949)

BibTexBibNote ® (generic)BibNote ® (RIS)Medline

RefWorks

Русский

English

RT Journal
T1 Mikroradiografiya vtorichnymi elektronami
A1 ,А.К.
PB Uspekhi Fizicheskikh Nauk
PY 1949
FD 10 Feb, 1949
JF Uspekhi Fizicheskikh Nauk
JO Usp. Fiz. Nauk
VO 37
IS 2
SP 259-261
DO 10.3367/UFNr.0037.194902e.0259
LK https://ufn.ru/ru/articles/1949/2/e/