Микрорадиография вторичными электронами

Используя вторичные электроны, образованные рентгеновскими лучами попадающими на исследуемое изделие, можно получать замечательныекартины, рисующие структуру объекта. Различают два метода подобной съёмки: просвечивание вторичными электронами исследуемого объекта в фиксация картины, создаваемой отражёнными вторичными электронами. Полученные картины, похожие несколько на микрофотографии, называют микрорадиограммами.
Этому методу исследования поверхности изделия или строения достаточно прозрачного объекта — около 8 лет. За это время была получена уверенность в целесообразности его применения для весьма большого числа случаев. числа случаев.

Текст pdf (269 Кб)

Скачивая файл я соглашаюсь с условиями использования.

DOI: 10.3367/UFNr.0037.194902e.0259
URL: https://ufn.ru/ru/articles/1949/2/e/
Цитата: А К "Микрорадиография вторичными электронами" УФН 37 259–261 (1949)

BibTexBibNote ® (generic)BibNote ® (RIS)Medline

RefWorks

Русский

English

RT Journal
T1 'a'�'�р'�р'�'�'�'�'�р'�ф'�ya '�т'�р'�ch'�ы'�'� э'�'�'�тр'�'�'�'�'�
A1 ,А.К.
PB Uspekhi Fizicheskikh Nauk
PY 1949
FD 10 Feb, 1949
JF Uspekhi Fizicheskikh Nauk
JO Usp. Fiz. Nauk
VO 37
IS 2
SP 259-261
DO 10.3367/UFNr.0037.194902e.0259
LK https://ufn.ru/ru/articles/1949/2/e/