Используя вторичные электроны, образованные рентгеновскими лучами попадающими на исследуемое изделие, можно получать замечательныекартины, рисующие структуру объекта. Различают два метода подобной съёмки: просвечивание вторичными электронами исследуемого объекта в фиксация картины, создаваемой отражёнными вторичными электронами. Полученные картины, похожие несколько на микрофотографии, называют микрорадиограммами.
Этому методу исследования поверхности изделия или строения достаточно прозрачного объекта — около 8 лет. За это время была получена уверенность в целесообразности его применения для весьма большого числа случаев. числа случаев.

%0 Journal Article
%T Микрорадиография вторичными электронами
%A А. К.
%I Успехи физических наук
%D 1949
%J Усп. физ. наук
%V 37
%N 2
%P 259-261
%U https://ufn.ru/ru/articles/1949/2/e/
%U https://doi.org/10.3367/UFNr.0037.194902e.0259