Выпуски

 / 

1949

 / 

Февраль

  

Из текущей литературы


Микрорадиография вторичными электронами

Используя вторичные электроны, образованные рентгеновскими лучами попадающими на исследуемое изделие, можно получать замечательныекартины, рисующие структуру объекта. Различают два метода подобной съёмки: просвечивание вторичными электронами исследуемого объекта в фиксация картины, создаваемой отражёнными вторичными электронами. Полученные картины, похожие несколько на микрофотографии, называют микрорадиограммами.
Этому методу исследования поверхности изделия или строения достаточно прозрачного объекта — около 8 лет. За это время была получена уверенность в целесообразности его применения для весьма большого числа случаев. числа случаев.

Текст pdf (269 Кб)
DOI: 10.3367/UFNr.0037.194902e.0259
URL: https://ufn.ru/ru/articles/1949/2/e/
Цитата: А К "Микрорадиография вторичными электронами" УФН 37 259–261 (1949)
BibTexBibNote ® (generic)BibNote ® (RIS)MedlineRefWorks
© Успехи физических наук, 1918–2024
Электронная почта: ufn@ufn.ru Телефоны и адреса редакции О журнале Пользовательское соглашение