Issues

 / 

1987

 / 

June

  

Book reviews


Scanning electron microscopy

L. Reimer. Scanning Electron Microscopy: Physics of Image Formation and Microanalysis. Springer-Verlag, Berlin; Heidelberg; New York; Tokyo, 1985, pp. 457 (Springer Series in Optical Sciences. V. 45).

PACS: 68.37.Hk
DOI: 10.1070/PU1987v030n06ABEH002866
URL: https://ufn.ru/en/articles/1987/6/q/
Citation: Dyukov V G "Scanning electron microscopy" Sov. Phys. Usp. 30 552–552 (1987)
BibTexBibNote ® (generic)BibNote ® (RIS)MedlineRefWorks

Оригинал: Дюков В Г «Растровая электронная микроскопия: физика формирования изображений и микроанализа» УФН 152 357–358 (1987); DOI: 10.3367/UFNr.0152.198706q.0357

Cited by (1) Similar articles (2) ↓

  1. G.N. Shkerdin “Problems of integrated optics30 549–550 (1987)
  2. A.L. Golovin “X-ray microscopy30 549–549 (1987)

The list is formed automatically.

© 1918–2024 Uspekhi Fizicheskikh Nauk
Email: ufn@ufn.ru Editorial office contacts About the journal Terms and conditions