Issues

 / 

1987

 / 

June

←  →

Book reviews


Scanning electron microscopy

L. Reimer. Scanning Electron Microscopy: Physics of Image Formation and Microanalysis. Springer-Verlag, Berlin; Heidelberg; New York; Tokyo, 1985, pp. 457 (Springer Series in Optical Sciences. V. 45).

Fulltext pdf (47 KB)
Fulltext is also available at DOI: 10.1070/PU1987v030n06ABEH002866
PACS: 68.37.Hk
DOI: 10.1070/PU1987v030n06ABEH002866
URL: https://ufn.ru/en/articles/1987/6/q/
Citation: Dyukov V G "Scanning electron microscopy" Sov. Phys. Usp. 30 552–552 (1987)
BibTexBibNote ® (generic)BibNote ® (RIS)MedlineRefWorks

Оригинал: Дюков В Г «Растровая электронная микроскопия: физика формирования изображений и микроанализа» УФН 152 357–358 (1987); DOI: 10.3367/UFNr.0152.198706q.0357

Cited by (2) Similar articles (4) ↓

  1. A.L. Golovin “X-ray microscopy” Sov. Phys. Usp. 30 549–549 (1987)
  2. D.A. Kazenin “Heat conduction in bodies with linear thermoelasticity” Sov. Phys. Usp. 30 548–548 (1987)
  3. G.N. Shkerdin “Problems of integrated optics” Sov. Phys. Usp. 30 549–550 (1987)
  4. A.I. Nikishov “Quantum electrodynamics of strong fields” Sov. Phys. Usp. 30 551–552 (1987)

The list is formed automatically.

© 1918–2026 Uspekhi Fizicheskikh Nauk
Email: ufn@ufn.ru Editorial office contacts About the journal Terms and conditions