Scanning electron microscopy

L. Reimer. Scanning Electron Microscopy: Physics of Image Formation and Microanalysis. Springer-Verlag, Berlin; Heidelberg; New York; Tokyo, 1985, pp. 457 (Springer Series in Optical Sciences. V. 45).

PACS: 68.37.Hk
DOI: 10.1070/PU1987v030n06ABEH002866
URL: https://ufn.ru/en/articles/1987/6/q/
Citation: Dyukov V G "Scanning electron microscopy" Sov. Phys. Usp. 30 552–552 (1987)

BibTexBibNote ® (generic)BibNote ® (RIS)Medline

RefWorks

RT Journal
T1 Scanning electron microscopy
A1 Dyukov,V.G.
PB Physics-Uspekhi
PY 1987
FD 10 Jun, 1987
JF Physics-Uspekhi
JO Phys. Usp.
VO 30
IS 6
SP 552-552
DO 10.1070/PU1987v030n06ABEH002866
LK https://ufn.ru/en/articles/1987/6/q/

Оригинал: Дюков В Г «Растровая электронная микроскопия: физика формирования изображений и микроанализа» УФН 152 357–358 (1987); DOI: 10.3367/UFNr.0152.198706q.0357