В настоящем обзоре отражены успехи, достигнутые в последние годы с помощью безапертурного сканирующего микроскопа ближнего оптического поля (ASNOM), работающего в режиме упругого рассеяния света (sSNOM). Рассмотрены принципы работы прибора, технические приёмы, искажения и шумы, характерные для методики sSNOM, теоретические модели, используемые в методике. Получили развитие методы детектирования воздействия зондирующего поля на образец под иглой (например, термическое расширение), появилось заметное число исследований в терагерцевом или СВЧ-диапазоне. Развивается успех в материал-контрастном изображении поверхности, ведутся спектроскопические исследования областей поверхности нанометровых размеров. Приведены достижения в изображении бегущих и стоячих плазмон- и фонон-поляритонных волн над поверхностью твёрдого тела и над двумерными объектами, в том числе ван-дер-ваальсовыми материалами и графеном. Обнаружена гибридизация плазмонных поверхностных волн за счёт взаимодействия носителей заряда в тонком 2D-объекте с носителями в подложке. Пространственное разрешение прибора (1—20 нм) за последние 5—8 лет практически не изменилось.

Ключевые слова: микроскопия ближнего оптического поля, наноструктуры, спектроскопия, ASNOM, sSNOM PACS: 07.60.−j, 07.79.Fc, 61.46.−w, 68.37.Ps, 68.65.Pq, 85.30.De, 87.64.kp (все) DOI: 10.3367/UFNr.2024.02.039652 URL: https://ufn.ru/ru/articles/2024/6/d/ 001334470800003 2-s2.0-85200125275 2024PhyU...67..588K Цитата: Казанцев Д В, Казанцева Е А "Безапертурная ближнепольная микроскопия упругого рассеяния света" УФН 194 630–673 (2024) BibTexBibNote ® (generic)BibNote ® (RIS)MedlineRefWorks Поступила: 26 мая 2023, доработана: 4 октября 2023, одобрена в печать: 27 февраля 2024 English citation: Kazantsev D V, Kazantseva E A “Scattering-type apertureless scanning near-field optical microscopy” Phys. Usp. 67 588–628 (2024); DOI: 10.3367/UFNe.2024.02.039652