Описываются и сравниваются прецизионные рентгеновские методы абсолютного и относительного определения параметров кристаллической решётки (межплоскостных расстояний), в том числе метод косселевских проекций (метод дифракции широко расходящегося пучка), метод Бонда, метод Реннингера, метод обратного отражения, интерференционный метод, метод стандартов (эталонов). Показано, что для большинства рассмотренных методов достижима относительная точность определения параметров решётки $\sim 10 ^{-5}-10^{-6}$, причём последние два метода дают гораздо бóльшую точность, $\sim 10 ^{-8}-10^{-9}$.

Ключевые слова: рентгеновское излучение, дифракция, угол Брэгга, параметр кристаллической решётки, межплоскостное расстояние PACS: 06.20.Jr, 07.85.−m, 61.05.cp, 61.50.−f (все) DOI: 10.3367/UFNr.2019.07.038599 URL: https://ufn.ru/ru/articles/2020/9/d/ 000597245700004 2-s2.0-85098656998 2020PhyU...63..907L Цитата: Лидер В В "Прецизионное определение параметров кристаллической решётки" УФН 190 971–994 (2020) BibTexBibNote ® (generic)BibNote ® (RIS)MedlineRefWorks Поступила: 14 мая 2019, доработана: 1 июля 2019, одобрена в печать: 2 июля 2019 English citation: Lider V V “Precise determination of crystal lattice parameters” Phys. Usp. 63 907–928 (2020); DOI: 10.3367/UFNe.2019.07.038599