Безапертурная микроскопия ближнего оптического поля
Д.В. Казанцева,
Е.В. Кузнецовб,
С.В. Тимофеевб,
А.В. Шелаевб,
Е.А. Казанцевав аНациональный исследовательский центр «Курчатовский институт», Институт теоретической и экспериментальной физики им. А.И. Алиханова, ул. Б. Черёмушкинская 25, Москва, 117218, Российская Федерация бГруппа компаний NT-MDT Spectrum Instruments: «НТ-МДТ», проезд №4922, д. 4, стр. 3, Зеленоград, 124460, Российская Федерация вМосковский технологический университет, просп. Вернадского 78, Москва, 119454, Российская Федерация
Рассмотрены принципы работы безапертурного сканирующего микроскопа ближнего оптического поля (ASNOM), в котором зонд-игла играет роль стержневой антенны-вибратора, а регистрируемый сигнал — его электромагнитного излучения. Фаза и амплитуда излучаемой волны изменяются в зависимости от условий "заземления" конца антенны в исследуемой точке образца. Для детектирования слабого излучения крошечной иглы (её длина 2—15 мкм) используется оптическое гомо(гетеро)динирование и нелинейность зависимости оптической дипольной поляризуемости иглы от расстояния остриё—поверхность. Пространственное разрешение прибора определяется размером острия иглы (1—20 нм) независимо от рабочей длины волны (500 нм—100 мкм). Показана способность ASNOM получать карту оптических свойств поверхности путём растрового сканирования, а также обеспечивать спектральные и временные измерения отклика поверхности в избранной точке.
PT Journal Article
TI Безапертурная микроскопия ближнего оптического поля
AU Казанцев Д В
FAU Казанцев ДВ
AU Кузнецов Е В
FAU Кузнецов ЕВ
AU Тимофеев С В
FAU Тимофеев СВ
AU Шелаев А В
FAU Шелаев АВ
AU Казанцева Е А
FAU Казанцева ЕА
DP 10 Mar, 2017
TA Усп. физ. наук
VI 187
IP 3
PG 277-295
RX 10.3367/UFNr.2016.05.037817
URL https://ufn.ru/ru/articles/2017/3/b/
SO Усп. физ. наук 2017 Mar 10;187(3):277-295
Поступила: 15 апреля 2016, доработана: 24 мая 2016, одобрена в печать: 24 мая 2016