Безапертурная микроскопия ближнего оптического поля

Д.В. Казанцев^а, Е.В. Кузнецов^б, С.В. Тимофеев^б, А.В. Шелаев^б, Е.А. Казанцева^в
^аНациональный исследовательский центр «Курчатовский институт», Институт теоретической и экспериментальной физики им. А.И. Алиханова, ул. Б. Черёмушкинская 25, Москва, 117218, Российская Федерация
^бГруппа компаний NT-MDT Spectrum Instruments: «НТ-МДТ», проезд №4922, д. 4, стр. 3, Зеленоград, 124460, Российская Федерация
^вМосковский технологический университет, просп. Вернадского 78, Москва, 119454, Российская Федерация

Рассмотрены принципы работы безапертурного сканирующего микроскопа ближнего оптического поля (ASNOM), в котором зонд-игла играет роль стержневой антенны-вибратора, а регистрируемый сигнал — его электромагнитного излучения. Фаза и амплитуда излучаемой волны изменяются в зависимости от условий "заземления" конца антенны в исследуемой точке образца. Для детектирования слабого излучения крошечной иглы (её длина 2—15 мкм) используется оптическое гомо(гетеро)динирование и нелинейность зависимости оптической дипольной поляризуемости иглы от расстояния остриё—поверхность. Пространственное разрешение прибора определяется размером острия иглы (1—20 нм) независимо от рабочей длины волны (500 нм—100 мкм). Показана способность ASNOM получать карту оптических свойств поверхности путём растрового сканирования, а также обеспечивать спектральные и временные измерения отклика поверхности в избранной точке.

Текст pdf (1,5 Мб)

Скачивая файл я соглашаюсь с условиями использования.

English fulltext is available at DOI: 10.3367/UFNe.2016.05.037817

Ключевые слова: микроскопия ближнего оптического поля, наноструктуры, спектроскопия, ASNOM
PACS: 07.60.+j, 07.79.Fc, 61.46.+w, 68.37.Ps, 68.65.Pq, 85.30.De, 87.64.+t (все)
DOI: 10.3367/UFNr.2016.05.037817
URL: https://ufn.ru/ru/articles/2017/3/b/
Web of Science

000405323300002
Scopus

2-s2.0-85021114339
ADS NASA

2017PhyU...60..259K
Цитата: Казанцев Д В, Кузнецов Е В, Тимофеев С В, Шелаев А В, Казанцева Е А "Безапертурная микроскопия ближнего оптического поля" УФН 187 277–295 (2017)

BibTexBibNote ® (generic)BibNote ® (RIS)

MedlineRefWorks

Русский

English

PT Journal Article
TI Apertureless near-field optical microscopy
AU Kazantsev D V
FAU Kazantsev DV
AU Kuznetsov E V
FAU Kuznetsov EV
AU Timofeev S V
FAU Timofeev SV
AU Shelaev A V
FAU Shelaev AV
AU Kazantseva E A
FAU Kazantseva EA
DP 10 Mar, 2017
TA Usp. Fiz. Nauk
VI 187
IP 3
PG 277-295
RX 10.3367/UFNr.2016.05.037817
URL https://ufn.ru/ru/articles/2017/3/b/
SO Usp. Fiz. Nauk 2017 Mar 10;187(3):277-295

Поступила: 15 апреля 2016, доработана: 24 мая 2016, одобрена в печать: 24 мая 2016

English citation: Kazantsev D V, Kuznetsov E V, Timofeev S V, Shelaev A V, Kazantseva E A “Apertureless near-field optical microscopy” Phys. Usp. 60 259–275 (2017); DOI: 10.3367/UFNe.2016.05.037817