Экспериментально методами инфракрасной спектроскопии, комбинационного рассеяния света и фемтосекундной спектроскопии и теоретически в рамках линейной кристаллооптики исследованы оптические свойства пленок широкозонных полупроводников на металлических подложках. Показано, что в планарных структурах (микрорезонаторах) оптические спектры содержат информацию об электромагнитных возбуждениях как объема, так и поверхности структуры. Оптические спектры определяются взаимодействием всех дипольно-активных возбуждений материалов структуры с электромагнитными модами микрорезонатора, которые в свою очередь определяются диэлектрической проницаемостью каждого вещества структуры, толщиной микрополости (микрорезонатора) и условиями экспериментального исследования.

PACS: 71.36.+c, 78.20.Bh, 78.40.−q, 78.66.−w (все) DOI: 10.3367/UFNr.0172.200212b.1371 URL: https://ufn.ru/ru/articles/2002/12/b/ 000182061800002 Цитата: Виноградов Е А "Поляритоны полупроводниковой микрополости" УФН 172 1371–1410 (2002) BibTexBibNote ® (generic)BibNote ® (RIS)Medline RefWorks Русский English RT Journal T1 Semiconductor microcavity polaritons A1 Vinogradov,E.A. PB Uspekhi Fizicheskikh Nauk PY 2002 FD 10 Dec, 2002 JF Uspekhi Fizicheskikh Nauk JO Usp. Fiz. Nauk VO 172 IS 12 SP 1371-1410 DO 10.3367/UFNr.0172.200212b.1371 LK https://ufn.ru/ru/articles/2002/12/b/ English citation: Vinogradov E A “Semiconductor microcavity polaritons” Phys. Usp. 45 1213–1250 (2002); DOI: 10.1070/PU2002v045n12ABEH001189