|
||||||||||||||||||
Поляритоны полупроводниковой микрополостиИнститут спектроскопии РАН, ул. Физическая 5, Троицк, Москва, 108840, Российская Федерация Экспериментально методами инфракрасной спектроскопии, комбинационного рассеяния света и фемтосекундной спектроскопии и теоретически в рамках линейной кристаллооптики исследованы оптические свойства пленок широкозонных полупроводников на металлических подложках. Показано, что в планарных структурах (микрорезонаторах) оптические спектры содержат информацию об электромагнитных возбуждениях как объема, так и поверхности структуры. Оптические спектры определяются взаимодействием всех дипольно-активных возбуждений материалов структуры с электромагнитными модами микрорезонатора, которые в свою очередь определяются диэлектрической проницаемостью каждого вещества структуры, толщиной микрополости (микрорезонатора) и условиями экспериментального исследования.
|
||||||||||||||||||
|