Экспериментально методами инфракрасной спектроскопии, комбинационного рассеяния света и фемтосекундной спектроскопии и теоретически в рамках линейной кристаллооптики исследованы оптические свойства пленок широкозонных полупроводников на металлических подложках. Показано, что в планарных структурах (микрорезонаторах) оптические спектры содержат информацию об электромагнитных возбуждениях как объема, так и поверхности структуры. Оптические спектры определяются взаимодействием всех дипольно-активных возбуждений материалов структуры с электромагнитными модами микрорезонатора, которые в свою очередь определяются диэлектрической проницаемостью каждого вещества структуры, толщиной микрополости (микрорезонатора) и условиями экспериментального исследования.

PACS: 71.36.+c, 78.20.Bh, 78.40.−q, 78.66.−w (все) DOI: 10.3367/UFNr.0172.200212b.1371 URL: https://ufn.ru/ru/articles/2002/12/b/ 000182061800002 Цитата: Виноградов Е А "Поляритоны полупроводниковой микрополости" УФН 172 1371–1410 (2002) BibTexBibNote ® (generic)BibNote ® (RIS) MedlineRefWorks Русский English PT Journal Article TI Semiconductor microcavity polaritons AU Vinogradov E A FAU Vinogradov EA DP 10 Dec, 2002 TA Usp. Fiz. Nauk VI 172 IP 12 PG 1371-1410 RX 10.3367/UFNr.0172.200212b.1371 URL https://ufn.ru/ru/articles/2002/12/b/ SO Usp. Fiz. Nauk 2002 Dec 10;172(12):1371-1410 English citation: Vinogradov E A “Semiconductor microcavity polaritons” Phys. Usp. 45 1213–1250 (2002); DOI: 10.1070/PU2002v045n12ABEH001189