Экспериментально методами инфракрасной спектроскопии, комбинационного рассеяния света и фемтосекундной спектроскопии и теоретически в рамках линейной кристаллооптики исследованы оптические свойства пленок широкозонных полупроводников на металлических подложках. Показано, что в планарных структурах (микрорезонаторах) оптические спектры содержат информацию об электромагнитных возбуждениях как объема, так и поверхности структуры. Оптические спектры определяются взаимодействием всех дипольно-активных возбуждений материалов структуры с электромагнитными модами микрорезонатора, которые в свою очередь определяются диэлектрической проницаемостью каждого вещества структуры, толщиной микрополости (микрорезонатора) и условиями экспериментального исследования.

PACS: 71.36.+c, 78.20.Bh, 78.40.−q, 78.66.−w (все) DOI: 10.3367/UFNr.0172.200212b.1371 URL: https://ufn.ru/ru/articles/2002/12/b/ 000182061800002 Цитата: Виноградов Е А "Поляритоны полупроводниковой микрополости" УФН 172 1371–1410 (2002) BibTexBibNote ® (generic) BibNote ® (RIS)MedlineRefWorks Русский English TY JOUR TI Semiconductor microcavity polaritons AU Vinogradov, E. A. PB Uspekhi Fizicheskikh Nauk PY 2002 JO Uspekhi Fizicheskikh Nauk JF Uspekhi Fizicheskikh Nauk JA Usp. Fiz. Nauk VL 172 IS 12 SP 1371-1410 UR https://ufn.ru/ru/articles/2002/12/b/ ER https://doi.org/10.3367/UFNr.0172.200212b.1371 English citation: Vinogradov E A “Semiconductor microcavity polaritons” Phys. Usp. 45 1213–1250 (2002); DOI: 10.1070/PU2002v045n12ABEH001189